Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid - Materials Science ...

1. Adsorción de moléculas sobre
superficies
Palabras clave: moléculas, estructura atómica,
adsorción
El estudio de la interacción de distintas moléculas con
las superficies de materiales es un tema de gran importancia
tecnológica tanto para el diseño y fabricación de
sensores de gases como para comprender el funcionamiento
de catalizadores. Nosotros pretendemos modelizar
estos procesos mediante el estudio de la adsorción
controlada de moléculas sobre superficies monocristalinas.
Así buscamos la geometría y el sitio de
adsorción de la molécula y comprender como se modifican
las propiedades electrónicas del material cuando
se absorben sobre ellos distintas moléculas tanto inorgánicas
como orgánicas. Hasta ahora estudiábamos la
adsorción molecular dentro de equipos de vacío, en
este año hemos comenzado a estudiar la adsorción de
moléculas dentro de una solución. En concreto hemos
comenzado estudiando la adsorción de oxido nítrico
sobre la superficie del Pt(111). Las técnicas empleadas
para su caracterización son de dos tipos, por una parte
electroquímica mediante el voltamograma y por otra
parte técnicas de análisis de superficies, como espectroscopía
de fotoemisión (XPS) y microscopía túnel
(STM), así como difracción de rayos X rasante realizada
in-situ, dentro de una celda electroquímica en el sincrotrón
ESRF.
1. Adsorption of molecules on surfaces
Keywords: molecules, adsorption, atomic structure
The study of the interaction of different molecules with
surfaces is of a great importance for gas sensor designing
and for the understanding of the catalytic processes.
Our objective is to model the molecular adsorption,
desorption and reaction processes on well defined
surfaces. Our studies are forwarded to find out the
molecular structure and the electronic changes induced
in the material for the presence of a molecular adsorbed
layer. We have studied until now the adsorption
process in vacuum environment. This year we have started
to study the adsorption process from a solution. In
particular we have studied the adsorption of nitric
oxide on Pt(111). We have used for its characterization
both electrochemical and surface science related techniques,
as cyclic voltammetry, X-Ray photoelectron
spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy
(STM) and surface X-Ray diffraction performed in-situ,
(liquid environment) at the synchrotron facility ESRF.
2. Caracterización morfológica de
películas delgadas de ZnO crecidas por
MOCVD
Palabras clave: ZnO, microscopía de fuerzas atómicas,
caracterización morfológica
La obtención de monocristales de ZnO de gran tamaño,
su utilización como substratos, ventanas ópticas etc,
comienza por preparar y caracterizar películas delgadas.
En el grupo del Prof. V. Muñoz (Universidad de
Valencia) se pueden obtener dichas películas mediante
la técnica de deposición química en fase gaseosa a partir
de la descomposición de compuestos organometálicos,
MOCVD. Nuestra aportación es la aplicación metodológica
de la microscopía de fuerzas atómicas para la
determinación de la morfología y profundizar en la
comprensión de los mecanismos de crecimiento.
Determinando y cuantificando la rugosidad superficial y
tamaño de grano. La caracterización estructural completa
incluye medidas de difracción de rayos X, microscopía
óptica e interferometría Nomarski y microscopía
electrónica de barrido. La caracterización de propiedades
físicas se centrará en medidas de transporte eléctrico
y ópticas: absorción y fotoluminiscencia. La correlación
de la caracterización con las técnicas de crecimiento
cristalino permitirá avanzar en la mejora y control
de los métodos utilizados.
2. Morphological characterization of ZnO
thin films grown by MOCVD
Keywords: ZnO, atomic forces microscopy (AFM), morphologic
characterization
To obtain large monocrystals which can be used as
substrates, optical windows etc, needs of previous
growth and characterization of thin films. The group of
Prof. V. Muñoz (Universidad de Valencia) has the capability
to prepare them by Metal Organic Chemical Vapor
Deposition (MOCVD). Our contribution is to methodologically
apply the atomic force microscopy to determine
the morphology as well as to try to understand the
growth mechanisms. We determine and quantify the
surface roughness and grain size. The complete structural
characterization includes X-ray diffraction measurements,
optical microscopy and Nomarski interferometry
and scanning electron microscopy. The physical
properties characterization is based on transport and
optical measurements: absorption and photoluminescence.
The feedback with the crystal growth techniques
would allow improve the control of the methods
applied.
Proyectos:
Caracterización morfológica y estructural del ZnO por AFM. Código: MAT2001-2920-C03-02, Período: 28/12/2001 - 27/12/2004,
Fuente de financiación: MCyT, Importe total (euros): 40.868,81, Investigador Principal: Ocal García, C.
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