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Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid - Materials Science ...

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1. A. Pascual, J. F. Fernán<strong>de</strong>z, C. R. Sánchez, S. Manotas, and F. Agulló-Rueda, J. Porous <strong>Materials</strong>. 9, 57-66 (2002).<br />

2. J. H. Dickerson, E. E. Men<strong>de</strong>z, A. A. Allerman, S. Manotas, F. Agulló-Rueda, and C. Pecharromán,’ Physica E 13, 398-402 (2002).<br />

3. M. R. B. Andreeta, L. C. Caraschi, F. Agulló-Rueda, and A. C. Hernan<strong>de</strong>s, J. Cryst. Growth 242, 395-399 (2002).<br />

Proyectos:<br />

Preparación y caracterización <strong>de</strong> nanoestructuras basadas en silicio poroso para aplicaciones optoelectrónicas. Código: MAT2000-<br />

0375-C02-02, Período: 1/1/2001 - 31/12/2003, Fuente <strong>de</strong> financiación: MCyT, Importe total (euros): 61.904, Investigador Principal:<br />

Vázquez, L., Investigadores: Agulló Rueda, F.; Herrero, P.; Sánchez, O.<br />

5. Fuerzas fotónicas y nanopartículas<br />

Palabras clave: nanopartículas, microscopía <strong>de</strong> fuerza<br />

fotónica, nanomanipulación<br />

La microscopía <strong>de</strong> fuerza fotónica es una técnica <strong>de</strong><br />

imagen <strong>de</strong> la topografía superficial a escala nanométrica,<br />

la cual hemos mo<strong>de</strong>lizado recientemente. En este<br />

trabajo hemos estudiado nanopartículas metálicas<br />

como puntas <strong>de</strong>tectoras <strong>de</strong>ntro y fuera <strong>de</strong> la excitación<br />

<strong>de</strong> su resonancia <strong>de</strong> plasmón. Hemos realizado una<br />

comparación con partículas <strong>de</strong> silicio, cuyas resonancias<br />

morfológicas son excitadas. La señal <strong>de</strong> la fuerza<br />

se ha analizado y comparado con técnicas bien conocidas<br />

<strong>de</strong> microscopía óptica <strong>de</strong> campo cercano. Los resultados<br />

han mostrado que la microscopía <strong>de</strong> fuerza fotónica<br />

proporciona una mejor imagen <strong>de</strong> la topografía<br />

superficial en la escala nanométrica cuando los modos<br />

propios <strong>de</strong>l plasmón son excitados en la partícula que<br />

actúa como punta <strong>de</strong>tectora. Se ha establecido asimismo<br />

un mo<strong>de</strong>lo <strong>de</strong> manipulación <strong>de</strong> nanopartículas con<br />

una punta <strong>de</strong> STM mediante la acción <strong>de</strong> la fuerza electromagnética<br />

<strong>de</strong> dos ondas evanescentes contrapropagantes.<br />

5. Photonic forces and nanoparticles<br />

Keywords: photonic force microscopy, nanoparticles,<br />

nanomanipulation<br />

The photonic force microscopy is a scanning technique<br />

of imaging surface topography at the nanometrical<br />

scale that was recently mo<strong>de</strong>led. In this work, metallic<br />

probes are studied either on or off probe particle plasmon<br />

resonance excitation. A comparison with silicon<br />

particles, where morphology-<strong>de</strong>pen<strong>de</strong>nt resonances<br />

take place, is done. The force signal is also analyzed<br />

and compared to well-known ~constant distance! nearfield<br />

microscopy techniques. The results show that photonic<br />

force microscopy provi<strong>de</strong>s a better image of surface<br />

topography at nanometric scale when the plasmon<br />

eigenmo<strong>de</strong>s are excited in the metallic probe. We have<br />

also established a mo<strong>de</strong>l of nanoparticle manipulation<br />

by a STM probe mediate by the action of the electromagnetic<br />

force of two counterpropagating evanescent<br />

waves.<br />

1. P. C. Chaumet, A. Rahmani y M. Nieto-Vesperinas, Phys. Rev. Lett. 88, 123601 1-123601 4 (2002).<br />

2. J.R. Arias-Gonzalez, M. Nieto-Vesperinas y M. Lester, Phys. Rev. B 65, 115402 1-115402 8 (2002).<br />

3. P.C. Chaumet, A. Rahmani y M. Nieto-Vesperinas, Phys. Rev.B 66, 195405 1-195405 11 (2002).<br />

Proyectos:<br />

Interacciones inducidas por el scattering <strong>de</strong> luz y electrones en sistemas mesoscópicos <strong>de</strong> interés en electrónica y óptica. Código:<br />

PB98-0464, Período: 30/12/1999 - 30/12/2002, Fuente <strong>de</strong> financiación: DGICyT, Importe total (euros): 60.101, Investigador<br />

Principal: Nieto Vesperinas, M., Investigadores: Serena Domingo, P.A.; Sáenz Gutiérrez, J.J. Becarios y Doctorandos: Ripoll Lorenzo, J.;<br />

Arias González, R.; García Martín, A.; Gómez Medina, R.<br />

ERBFRMXCT98-0242<br />

6. Metamateriales <strong>de</strong> índice <strong>de</strong> refracción<br />

negativo<br />

Palabras clave: refracción negativa, materiales zurdos,<br />

metamateriales fotónicos<br />

Hemos estudiado la posibilidad, previamente propuesta,<br />

<strong>de</strong> obtener superenfoque con láminas <strong>de</strong> materiales<br />

<strong>de</strong> indice <strong>de</strong> refracción negativa, y con metales en el<br />

límite electrostático. Obteniendo un resultado negativo.<br />

También hemos <strong>de</strong>mostrado la predominancia <strong>de</strong> la<br />

absorción en aquellos metamateriales construidos<br />

hasta ahora con el fin <strong>de</strong> proporcionar refracción negativa.<br />

Hasta enero 2003 este trabajo ha sido comentado<br />

nueve veces en noticias científicas <strong>de</strong> revistas, incluyendo,<br />

<strong>Science</strong> y Scientific American.<br />

6. Negative in<strong>de</strong>x metamaterials<br />

Keywords: negative refraction, left-han<strong>de</strong>d materials,<br />

photonic metamaterials<br />

We have studied the possibility, previously proposed, of<br />

obtaining superfocusing with negative in<strong>de</strong>x slabs, and<br />

with metallic slabs in the electrostatic limit. The result<br />

has been negative. We have also <strong>de</strong>monstrated the<br />

dominant contribution of absorption in those metamaterials<br />

so far built aiming to yield negative refraction.<br />

Up to January 2003, this work has been commented<br />

nine times in news of scientific magazines, including<br />

<strong>Science</strong> and Scientific American.<br />

1. N. Garcia y M. Nieto-Vesperinas, Phys. Rev. Lett. 88, 207403 1-207403 4 (2002).<br />

2. E.V. Ponizovskaya, M. Nieto-Vesperinas y N. Garcia, Appl. Phys. Lett. 81, 4470-4472 (2002).<br />

3. N. Garcia y M. Nieto-Vesperinas, Opt. Lett. 27, 885-887 (2002).<br />

Proyectos: U.E. ERBFRMXCT98-0242<br />

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