Lokale Verformungsmessung an partikelverstärktem Aluminium

Abb. A-4: REM- Aufnahme eines Schliffs aus A6061+10%SiC, Partikelgröße 10µm, poliert
am Gerät „Minimet Polisher“ von Buehler
A.2.4.3 Elektrolytisches Polieren
Vorteilhaft an dieser Methode ist, dass die polierte Oberfläche keine Verformungsschicht, die
EBSD- Untersuchungen stört, aufweist. Andererseits wird die Aluminium-Matrix stärker
abgetragen als die Partikel. Deswegen erhält man beim elektrolytischen Polieren
Probenoberflächen, an denen die SiC- Partikel deutlich aus der Aluminiummatrix
hervorstehen.
Für die Präparierungsversuche wurde das Gerät „Polectrol“ von Struers benutzt, als Elektrolyt
kam die Lösung A2-I der Firma Struers zum Einsatz.
Proben wurden geschliffen, auf Filztuch mit Tonerde poliert und elektrolytisch poliert. Mit
den Geräteeinstellungen Spannung 60V, Polierzeit 3sec und Flow3 konnte eine glatt polierte
Aluminiummatrix erhalten werden, aus der die SiC- Partikel aber 4 µm hervorstanden (Abb.
A-5).
Um diesen Höhenunterschied zu mindern variierten wir Spannung (20V, 40V) und Polierzeit
(3s, 4s, 5s). Bei allen diesen Einstellungen ragten die Partikel 1,5µm bis 2,5µm aus der Matrix
heraus, wobei kleinere Spannungen und geringere Polierzeiten nicht zu kleineren
Höhenunterschieden zwischen Matrix und Partikel führten. Die erhaltenen Oberflächen
wiesen, wie in Abb. A-6 ersichtlich, in der Aluminiummatrix eine rau strukturierte Oberfläche
auf.
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