Lokale Verformungsmessung an partikelverstärktem Aluminium

Abb. C-2: EBSD- Scan einer elektrolytisch polierten Probe aus pulvermetallurgisch
hergestelltem A6061. Links und Mitte: Inverse Polefigure Map, rechts: Image Quality Map.
C.2.2 Elektrolytisch polierte und ionengeätzte Probe
Eine Probe aus unverstärktem pulvermetallurgisch hergestelltem Aluminium A6061 wurde
mit den Einstellungen 60V, 5s, Flow 3 elektrolytisch poliert und ionengeätzt (EHT 5kV,
Beam Current 1mA, Vakuum 4,5*10 -3 mbar, Winkel von 90° zwischen Ionenstrahl und
Probenoberfläche).
Die aus dem EBSD- Scan erstellten Maps sind in Abb. C-3 dargestellt. Der Vergleich der
EBSD- Scans einer elektrolytisch polierten Probe und einer elektrolytisch polierten,
ionengeätzten Probe zeigt, dass der Anteil der indizierten Punkte, die Average IQ und der
Average CI durch Ionenätzen gesenkt wurden (siehe Tab. C-1).
Das Ionenätzen minderte also die Qualität der erhaltenen EBSD- Scans an der elektrolytisch
polierten Probe.
Abb. C-3: EBSD- Scan einer elektrolytisch polierten, ionengeätzen Probe aus
pulvermetallurgisch hergestelltem A6061. Links und Mitte: Inverse Polefigure Map, rechts:
Image Quality Map.
C.2.3 „Minimet“- polierte und thermisch geätzte Probe
Eine Probe aus pulvermetallurgisch hergestelltem Aluminium A6061 mit 10% SiC- Partikel
der Größe 10µm wurde am Automaten „Minimet Polisher“ poliert und in Vakuum 8h bei
175°C thermisch geätzt (siehe A.2.5.3).
Die aus dem EBSD- Scan erstellten Maps sind in Abb. C-4 dargestellt. Die zwei helleren
Bereiche in der oberen Hälfte der Image Quality Map sind die Abbilder zweier SiC- Partikel.
Der rechte der beiden Partikel wurde bei der automatischen Analyse der EBSD- Pattern
fälschlicherweise als Aluminium erkannt und in den Inverse Polefigure Maps violett bzw.
grün dargestellt.
Bei diesem Scan wurden nur 55% der Messpunkte indiziert, dabei sind einige dieser
wahrscheinlich falsch da sie eine schlechte Image Quality aufweisen (siehe Tab. C-1).
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