Lokale Verformungsmessung an partikelverstärktem Aluminium
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C Vorversuche zur EBSD- Technik<br />
C.1 Verwendete Geräte<br />
Rasterelektronenmikroskop: „Leo Stereosc<strong>an</strong> 440“<br />
Kamera: “Merlin LTC 216 F40E“. Wegen eines Defektes kam es zeitweise zu Bildausfällen<br />
und plötzlichen Helligkeitsschw<strong>an</strong>kungen.<br />
Camera Control Unit: “Custom Cameras 2052”<br />
Steuerung: TSL MSC 100 von “TexSEM Labs. Inc. “.<br />
Computerprogramme: OIM Analysis 3.03 und OIM Data Collection 3.02 von „Tex Sem<br />
Laboratories“.<br />
C.2 Vorversuche<br />
Verschiedene Probenpräparationen wurden auf ihre Eignung zur Aufnahme von EBSD- Sc<strong>an</strong>s<br />
hin untersucht.<br />
Das Datenaufnahmeprogramm „OIM Data Collection“ ermöglicht die Erkennung mehrerer<br />
Phasen bei der Auswertung der EBSD- Pattern. Bei Nutzung dieser Möglichkeit <strong>an</strong> Proben<br />
aus dem pulvermetallurgisch hergestellten Verbundmaterial <strong>Aluminium</strong> A6061 +<br />
Siliziumkarbid wurden viele Messpunkte der falschen Phase zugeordnet. Grund dafür könnte<br />
die bei den Versuchen allgemein schlechte Patternqualität und die Ähnlichkeit der<br />
Kristallstrukturen von <strong>Aluminium</strong> und Siliziumkarbid sein. Deswegen wurde auf diese Option<br />
verzichtet, als Phase wurde <strong>Aluminium</strong> gewählt.<br />
Die Tab. C-1 zeigt eine Aufstellung der durchgeführten EBSD- Sc<strong>an</strong>s und ihre Bewertung.<br />
Material Präparation<br />
Anzahl der<br />
Punkte<br />
Tab. C-1: Aufstellung der EBSD- Sc<strong>an</strong>s<br />
Indizierte<br />
Punkte<br />
Indizierte<br />
Punkte(%)<br />
Average<br />
IQ<br />
Average<br />
CI<br />
Die Sc<strong>an</strong>s wurden <strong>an</strong>h<strong>an</strong>d folgender Zahlen bewertet:<br />
• Anzahl der Punkte<br />
• Indizierte Punkte: Anzahl der Messpunkte, die von der Software „OIM Data<br />
Collection“ indiziert wurden. Die Indizierung k<strong>an</strong>n aber falsch sein.<br />
• Indizierte Punkte (%): Anteil der indizierten Messpunkte<br />
- 63 -<br />
Filamenteinstellung<br />
A6061 Elektrolytisch poliert 612 504 82% 56,8 0,13 1. Peak<br />
A6061<br />
A6061 +<br />
10%Sic<br />
(10µm)<br />
A6061 +<br />
10%Sic<br />
(10µm)<br />
A6061 +<br />
10%Sic<br />
(10µm)<br />
A6061 +<br />
10%Sic<br />
(100µm)<br />
Elektrolytisch poliert,<br />
ionengeätzt<br />
„Minimet“ poliert,<br />
thermisch geätzt<br />
(Vakuum)<br />
„Minimet“ poliert,<br />
thermisch geätzt<br />
(Vakuum), ionengeätzt<br />
„Minimet“ poliert,<br />
chemisch geätzt<br />
„Minimet“ poliert,<br />
chemisch geätzt<br />
612 414 68% 43,9 0,07 1. Peak<br />
612 335 55% 44,8 0,06 1. Peak<br />
612 246 40% 37,2 0,03 1. Peak<br />
30839 13507 44% 38,3 0,03 1. Peak<br />
3066 1938 63% 56,0 0,09 2. Peak
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