Memory-Meister - elektronikJOURNAL
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Bilder: DEK<br />
Bilder: Digitaltest<br />
Entwickeln, Messen und Fertigen<br />
Elektronikfertigung<br />
Nicht zu dick auftragen<br />
Pro Activ verbessert den Lotpastenauftrag<br />
Pro Activ von DEK soll mit gängigen<br />
Druckverfahren und nur einer Schablonenstärke<br />
den Druck von Lotpaste für Bauteile<br />
wie 1005 neben herkömmlichen Komponenten<br />
besser ermöglichen. Auch wenn<br />
es viele Faktoren gibt, die den Schablonendruck<br />
beeinfl ussen, ist es hauptsächlich das<br />
Öff nungs-Flächenverhältnis, das bestimmt,<br />
was gedruckt werden kann. Schwierig machen<br />
den Prozess daher vor allem immer<br />
Verspricht bessere Ergebnisse und längere<br />
Lebensdauer der Schablonen: Pro Activ.<br />
Verheiratet<br />
Integration von Boundaryscan in Flying-Probe-Systeme<br />
Die Vorteile des MTS500 Flying-Probe-<br />
Testers Condor liegen laut Digitaltest in<br />
seiner Vielseitigkeit und Flexibilität: Der<br />
Flying-Probe-Test bietet neben den traditionellen<br />
ICT-Testroutinen so auch die Möglichkeit,<br />
funktionale Tests durchzuführen.<br />
Damit können Prototypen und Kleinserien<br />
schnell und kosteneffi zient getestet werden.<br />
Durch die Kombination von Flying-Probe<br />
und Boundaryscan können die Vorteile der<br />
einzelnen Verfahren vereint werden. Neben<br />
dem klassischen In-Circuit-Test mit<br />
Debuggen oder Testprogramme ausführen: Mit<br />
der Jtag-Software Pro Vision.<br />
kleinere Bauteilgrößen und gemischte Baugruppen:<br />
Die Wahrscheinlichkeit erfolgreicher<br />
Bedruckung wird hier zusammen mit<br />
den Bauteilen immer kleiner. So werden<br />
etwa Schablonen-Öff nungen mit einem<br />
Flächenverhältnis von 0,4 nötig, wenn Hersteller<br />
versuchen, 0,3 Millimeter CSP in<br />
ihre Prozesse zu integrieren. Diese Pitch-<br />
Größe ist schwer beherrschbar, Pro Activ<br />
verspricht als Drucktechnologie, das Prozessfenster<br />
soweit nach unten zu erweitern,<br />
dass das zuverlässige Bedrucken mit kleinen<br />
Schablonenöff nungen für diese CSP<br />
und 01005-Bauelementen funktioniert.<br />
Jedes Pro Activ-Paket umfaßt ein Steuerungs-Subsystem<br />
und einen Satz Rakel mit<br />
integrierter Elektronik. Nachdem es in Betrieb<br />
genommen wurde, aktiviert Pro Activ<br />
die Lotpaste, wenn sie mit dem Rakelblatt<br />
in Berührung kommt. Diese Aktivierung<br />
verändert nicht die Zusammensetzung der<br />
Lotpaste, macht sie aber geschmeidiger,<br />
wodurch die Packungsdichte der Lotparti-<br />
den vier Flying-Probes lassen sich auch<br />
funktionale Tests mit bis zu 1012 starren<br />
Nadeln von der Unterseite realisieren. Diese<br />
starren Nadeln können mittels magnetischer<br />
Nadelträger oder Vakuumadapters<br />
an den Prüfl ing gebracht werden.<br />
Die Möglichkeit, Boundaryscan-Testmethoden<br />
in Testprogramme zu integrieren,<br />
erweitert die Einsatzfähigkeit des MTS500<br />
Condor deutlich. Dabei ist durch Kontaktieren<br />
des Jtag-Port (TAP) der Infrastruktur-<br />
und Interconnect-Test ohne zusätzlich<br />
In MTS500 Condor sind Flying-Probe und<br />
Boundaryscan-Tests möglich.<br />
kel in den Schablonenöff nungen höher<br />
wird und die Bindung der Partikel untereinander<br />
stärker. Auf diese Weise entsteht<br />
eine bessere Transfer-Effi zienz mit besserer<br />
Qualität, Ausbeute und Durchsatz. DEK<br />
hat ein nach eigenen Angaben vielversprechendes<br />
Beta-Test-Programm laufen, das<br />
bereits gute Ergebnisse mit der Prozesstechnologie<br />
erzielt hat. Dazu äußern sich<br />
die EMS-Anbieter JJS Electronics sowie<br />
Hansatech positiv über die Qualität der bedruckten<br />
Leiterplatten, während der deutsche<br />
Hersteller Siedle beispielsweise seinen<br />
Produktionsdurchsatz deutlich steigern<br />
konnte, weil die Häufi gkeit der Unterschablonen<br />
reinigung von jeder dritten bis<br />
fünft en auf jede achte bis zehnte gesenkt<br />
werden konnte. (uns) ■<br />
infoDIREKT<br />
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Vorteil Verspricht niedrigere Produktionskosten<br />
und höhere Prozessqualität.<br />
zu kontaktierende Netze durchführbar.<br />
Durch die Kombination beider Methoden<br />
– Flying-Probe und Boundaryscan – lassen<br />
sich zum Beispiel die Testköpfe als virtuelle<br />
Boundaryscan-Zellen nutzen, und so die<br />
Testabdeckung erhöhen. Zudem lässt sich<br />
die funktionale Testabdeckung durch diese<br />
Vollintegration steigern, da die Kombination<br />
alle möglichen D/A- und A/D-Tests ermöglicht.<br />
Zusätzlich ist mit dieser Lösung<br />
In-System-Programmierung von Flashspeicher<br />
und programmierbarer Logik<br />
(PLD) über Boundaryscan möglich. Die<br />
Jtag-Soft ware Pro Vision kann die Kontrolle<br />
über die vier Flying-Probes zum Debugging<br />
oder zur Ausführung des Testprogrammes<br />
übernehmen. Anders herum lässt<br />
sich die Jtag-Hard- und -Soft ware aus einem<br />
CITE-Testprogramm von Digitaltest<br />
heraus steuern. (uns) ■<br />
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Vorteil Tests in einem Gerät kombinieren<br />
verringert den Zeitaufwand.<br />
54 <strong>elektronikJOURNAL</strong> 11 / 2010<br />
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