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SB_19101NLP

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2018<br />

Abschlussbericht<br />

DVS-Forschung<br />

Herstellung von<br />

Kupfermetallisierungen auf<br />

Leistungsbauelementen<br />

mittels kaltaktiven<br />

Atmosphärenplasmas


Seite 2 des Schlussberichts zu IGF-Vorhaben 19.101N<br />

Inhaltsverzeichnis<br />

1 WISSENSCHAFTLICH- TECHNISCHE UND WIRTSCHAFTLICHE PROBLEMSTELLUNG ..... 11<br />

2 DURCHGEFÜHRTE ARBEITEN UND ERGEBNISSE IM BERICHTSZEITRAUM .................. 12<br />

2.1 Arbeitspaket 1: Evaluierung des plasmabasierten Cu-Auftrags auf<br />

unstrukturierten Wafern; Nachbehandlung und Charakterisierung von Cu-<br />

Schichten; Definition von Anforderungen ......................................................12<br />

2.1.1 Theoretische Hintergründe des Plasmas ........................................................... 13<br />

2.1.2 Beschaffenheit der verwendeten Pulverpartikel ............................................... 25<br />

2.1.3 Die Partikel nach dem Aufprall - Splatformation ............................................... 27<br />

2.1.4 Analyse des Plasmastrahls ................................................................................. 34<br />

2.1.5 Anlagenaufbau und Prozessgestaltung ............................................................. 40<br />

2.1.6 Nachbehandlung und Charakterisierung von Cu-Schichten ........................... 49<br />

2.1.7 Elektrische Leitfähigkeit der Kupferschicht ...................................................... 60<br />

2.1.8 Zusammenfassung der Beschichtungsergebnisse .......................................... 62<br />

2.2 Erarbeitung eines für Folgeprozesse kompatiblen<br />

Strukturierungsverfahrens für den selektiven plasmabasierten Cu-Auftrag<br />

...........................................................................................................................63<br />

2.2.1 Einteilung der Isolationswerkstoffe .................................................................... 63<br />

2.2.2 Anforderungen an die Isolationswerkstoffe ...................................................... 65<br />

2.2.3 Verwendete Anlagen ............................................................................................ 71<br />

2.2.4 Verwendete Isolationswerkstoffe und Substrate .............................................. 73<br />

2.2.5 Applikation der Isolationswerkstoffe .................................................................. 78<br />

2.2.6 Auswertung und Fazit der Isolationswerkstoffe ............................................... 88<br />

2.2.7 Hauptversuche mit erwärmten Substraten ........................................................ 96<br />

2.2.8 Hauptversuche ohne erwärmte Substrate ....................................................... 102<br />

2.2.9 Auswertung und Ergebnisse ............................................................................. 103<br />

2.2.10 Bewertung der verwendeten Werkstoffe .......................................................... 110<br />

2.2.11 Optimierung der Flanken und Aspektverhältnisse ......................................... 113<br />

2.2.12 Zusammenfassung der Strukturierungskonzepte .......................................... 147<br />

2.3 Herstellung von strukturierten Cu-Schichten auf Wafern mit<br />

Leistungsbauelementen; Charakterisierung insbesondere der elektrischen<br />

Eigenschaften................................................................................................. 151<br />

2.3.1 Testwaferbeschichtung mit Aluminium-Metallisierung, nicht reduziert ....... 161<br />

2.3.2 Testwaferbeschichtung mit Aluminium-Metallisierung, reduziert ................ 163<br />

2.3.3 Beschichtung der Test-IGBTs mit den ausgewählten Parametern ............... 165<br />

2.3.4 Testwaferbeschichtung mit Nickel-Gold-Metallisierung, nicht reduziert ..... 166<br />

2.3.5 Testwaferbeschichtung mit Nickel-Gold-Metallisierung, reduziert ............... 167


Seite 3 des Schlussberichts zu IGF-Vorhaben 19.101N<br />

2.4 Aufbau und Charakterisierung von Leistungsmodulen mit Cu-metallisierten<br />

Leistungsbauelementen ................................................................................ 173<br />

2.4.1 Ultraschall-Wedge-Wedge-Bonden ................................................................... 173<br />

2.4.2 Bondvorversuche ............................................................................................... 176<br />

2.4.3 Bonden mit 150 µm Kupferdraht ....................................................................... 181<br />

2.4.4 Bonden mit 300 µm Kupferdraht ....................................................................... 183<br />

2.4.5 Pulltestergebnisse .............................................................................................. 186<br />

2.4.6 Zusammenfassung der Bondergebnisse ......................................................... 189<br />

2.5 Qualifizierung und Zuverlässigkeitsuntersuchungen ................................. 190<br />

2.6 Fazit und Zusammenfassung des Projektes ................................................ 196<br />

3 VERWENDUNG DER ZUWENDUNG ....................................................................... 198<br />

4 DURCHFÜHRENDE FORSCHUNGSSTELLEN .......................................................... 199<br />

4.1 Personaleinsatz Lehrstuhl FAPS .................................................................. 199<br />

4.2 Personaleinsatz Fraunhofer ISIT ................................................................... 199<br />

4.3 Gerätebeschaffung......................................................................................... 199<br />

4.4 Leistungen Dritter .......................................................................................... 200<br />

4.5 Notwendigkeit und Angemessenheit der geleisteten Arbeit ....................... 200<br />

5 PLAN ZUM ERGEBNISTRANSFER IN DIE WIRTSCHAFT ........................................... 201<br />

6 WISSENSCHAFTLICH-TECHNISCHER UND WIRTSCHAFTLICHER NUTZEN .................. 203<br />

6.1 Innovativer Beitrag ......................................................................................... 203<br />

6.2 Industrielle Anwendungsmöglichkeiten ....................................................... 203<br />

6.3 Einschätzung zur Realisierbarkeit des vorgestellten Transferkonzepts .... 204<br />

7 DANKSAGUNG .................................................................................................. 205<br />

8 LITERATURVERZEICHNIS ................................................................................... 206


Seite 11 des Schlussberichts zu IGF-Vorhaben 19.101N<br />

1 Wissenschaftlich- technische und wirtschaftliche<br />

Problemstellung<br />

Der Einsatz von Kupfer als Drahtbondmaterial wirkt sich direkt positiv auf die Erhöhung<br />

des Wirkungsgrades, die Steigerung der Zuverlässigkeit und die Kompaktheit<br />

leistungselektronischer Systeme aus. Um Kupfer als Drahtbondmaterial einsetzen zu<br />

können, muss das Aluminium als heute üblicherweise verwendete Bauelemente-Metallisierung<br />

durch Kupfer verstärkt werden. Hier bietet sich der Fertigungsprozess,<br />

Bauelemente additiv mittels eines thermischen Atmosphärenplasmas zu verkupfern,<br />

an. Die durch neuartige Fertigungslösungen erzielte Steigerung der Leistungsfähigkeit<br />

und Robustheit der leistungselektronischen Systeme lässt sich auf dreifache<br />

Weise nutzen:<br />

Eine engere Auslegung der Halbleiterflächen führt zu geringerem Platzbedarf<br />

und reduzierten Kosten. Alternativ lässt sich das Modul mit unverändertem<br />

Halbleiterinventar auch bei hohen Temperaturen einsetzen. Dies schafft eine<br />

bessere räumliche Integration auch unter eingeschränkten Bauraum-verhältnissen<br />

in harscher Umgebung.<br />

Die robustere Aufbautechnik ermöglicht es, mit der gleichen Halbleiterfläche<br />

höhere Ströme zu schalten und damit die Leistungsdichte zu steigern.<br />

Ein weiterer Vorzug der Kupfer-Bonddraht-Technik besteht in der bei den Modulherstellern<br />

erprobten Anlagentechnik, mit der unter Anwendung etablierter<br />

Design-Prinzipien die gewohnte Flexibilität einer Drahtbond-Kontaktierung<br />

weiter genutzt werden kann.


Seite 12 des Schlussberichts zu IGF-Vorhaben 19.101N<br />

2 Durchgeführte Arbeiten und Ergebnisse im<br />

Berichtszeitraum<br />

2.1 Arbeitspaket 1: Evaluierung des plasmabasierten Cu-<br />

Auftrags auf unstrukturierten Wafern; Nachbehandlung und<br />

Charakterisierung von Cu-Schichten; Definition von<br />

Anforderungen<br />

Plasmaspritzen, oder auch Plasmasprühen, ist nach DIN EN 657 als ein thermisches<br />

Spritzverfahren definiert. Bei Verfahren dieser Art erfolgt das Aufbringen von Schichten<br />

mittels besonderer Geräte oder Anlagen durch Aufschmelzen oder Anschmelzen,<br />

Zerstäuben und Aufspritzen eines Spritzwerkstoffes mit hoher Geschwindigkeit auf die<br />

gereinigte und vorbehandelte Bauteiloberfläche. [1]<br />

Im Rahmen derselben Norm werden thermische Spritzverfahren nach der Energiequelle<br />

hin eingeteilt, welche zum Aufbringen der thermischen Energie verwendet wird.<br />

[2]<br />

Abbildung 1: Einteilung der thermischen Spritzverfahren nach DIN EN 657 [2]<br />

Bei diesen Verfahren wird das Beschichtungsmaterial, welches auch als Spritzzusatz<br />

bezeichnet wird, entweder in Form eines feinen Pulvers, in Drahtform, als Stabmaterial<br />

oder Suspension zugeführt. Die Zuführung selbst erfolgt über einen Fördermechanismus,<br />

wie Beispielsweise einen Pulverförderer in Kombination mit Fördergasen. [3]<br />

Während des Prozesses erfahren die Partikel des Beschichtungsmaterials zusätzlich<br />

zu der Erwärmung auch eine Beschleunigung durch den vorhandenen Gasstrom,


Seite 13 des Schlussberichts zu IGF-Vorhaben 19.101N<br />

wodurch das Material auf das Substratmaterial gespritzt wird. Beim Aufprall des Beschichtungsmaterials<br />

auf das Substrat deformieren die Partikel auf Grund ihrer kinetischen<br />

Energie. Die verformten Partikel wiederum erstarren durch den Kontakt mit dem<br />

Substrat, dessen Temperatur sich unterhalb der Schmelztemperatur des Spritzwerkstoffes<br />

findet. Idealerweise kommt es bei diesem Vorgang des Auftreffens und Erstarrens<br />

zu einem Verbund beider Materialien. Dieser Verbund wird, je nach Verfahren<br />

und Werkstoff aus einer Kombination von mechanischer Verklammerung,<br />

physikalischer Adhäsion und Diffusion gebildet. [3] Auch überlagern sich die Einzelnen<br />

Partikel untereinander, wodurch es zur Schichtbildung kommt. Die Schichteigenschaften<br />

sind hierbei maßgeblich beeinflusst von der Temperatur und Geschwindigkeit der<br />

Spritzpartikel im Moment des Auftreffens auf das Substrat. [4]<br />

2.1.1 Theoretische Hintergründe des Plasmas<br />

Der Zustand eines Stoffes kann über die drei klassischen Aggregatszustände beschrieben<br />

werden. Unter ausreichender Druck- und Temperaturerhöhungen ändert<br />

sich dieser Aggregatszustand, es kommt zum Phasenübergang [5]. Wird ein Stoff weit<br />

über seinen gasförmigen Zustand hinaus erhitzt, beginnen die Atome und Moleküle in<br />

einem kontinuierlichen Prozess zu Elektronen und Ionen zu zerfallen [6]. Damit derartige<br />

Vorgänge vonstattengehen, muss die thermische Energie mindestens im Bereich<br />

der Ionisationsenergie der atomaren Teilchen liegen. Durch die Ladungstrennung wird<br />

diese Materie elektrisch leitfähig und kann in Folge dessen durch Magnetfelder beeinflusst<br />

werden [7]. Zusammen mit der erhöhten Kraft-Wechselwirkung zwischen den<br />

geladenen Teilchen, ergibt sich ein neues Materieverhalten, welches allgemeinhin als<br />

Plasma bezeichnet wird. Um jedoch den Plasmazustand auch auf mikroskopischer<br />

Ebene zu beschreiben, reicht die reine Annahme der Ionisation nicht aus [8].<br />

Quasineutralität<br />

Um das allgemeine Verhalten von Plasma und die wirkenden Einflussfaktoren besser<br />

zu verstehen, wird mit verschiedenen Ansätzen gearbeitet. Wird das Plasma in seiner<br />

Gesamtheit betrachtet, wäre davon auszugehen, dass sich aufgrund der starken<br />

Coulomb-Kraftwechselwirkungen zwischen den Ladungsträgern, über Zeit wieder ein<br />

neutraler Zustand ausbildet. Im Mittel der zeitlichen und räumlichen Ausdehnung verhält<br />

sich das Plasma ladungsneutral oder auch quasineutral [9]. Es gilt in Näherung:<br />

n e − Z i n i<br />

n e<br />

≪ 1 (2.1)<br />

mit: ne,i Ladungsdichte Elektronen (e), Ladungsdichte Ionen (i)<br />

Zi<br />

ganzzahliger Faktor der Ionenladung


Seite 14 des Schlussberichts zu IGF-Vorhaben 19.101N<br />

Wird das Plasma jedoch auf mikroskopischer Ebene betrachtet wird deutlich: Im<br />

Plasma liegt ein Zustand der Ladungstrennung der Teilchen vor, welcher zeitlich und<br />

räumlich charakterisiert werden kann.<br />

Plasmafrequenz<br />

Die zeitliche Ladungstrennung innerhalb eines definierten Plasmas kann durch die sogenannte<br />

Plasmafrequenz ausgedrückt werden. Durch die herbeigeführte Ladungstrennung<br />

im Plasma, werden die aufgrund ihrer geringeren Masse beweglicheren<br />

Elektronen räumlich von den Ionenladungen getrennt. Es bildet sich gemäß des Gaußschen<br />

Gesetzes ein elektrisches Feld aus und eine rückwirkende Kraft wird auf die<br />

freien Elektronen ausgeübt. Aus dieser Schwingung ergibt sich die Eigenfrequenz, mit<br />

der die negativen Ladungsträger gegen die Ionen schwingen [6]. Diese ist wie folgt<br />

beschrieben:<br />

ω pe = √ e2 n e<br />

ε 0 m e<br />

(2.2)<br />

mit:<br />

e = Elementarladung<br />

me = Elektronenmasse<br />

ε0 = elektrische Feldkonstante<br />

In nicht magnetisiertem Plasma ist die Plasmafrequenz gleichbedeutend mit der<br />

Grenzfrequenz, unterhalb welcher elektromagnetische Wellen vom Plasma reflektiert<br />

werden (Plasma-cut-off) [10]. Mit einem Überschreiten der Plasmafrequenz, welche<br />

von der Elektronendichte ne des Plasmas abhängt ist es möglich, dass elektromagnetische<br />

Strahlung in das Plasma eindringt und kein abschirmender Effekt mehr stattfindet<br />

[7]. Die Grenzfrequenz bezeichnet stets die kürzeste Reaktionszeit der Teilchen<br />

im Plasma auf elektrische Felder und impliziert daher die Elektronen-Plasmafrequenz,<br />

welche aufgrund der geringeren Masse der Teilchen über der Frequenz der trägeren<br />

Ionen liegt [6].<br />

Debye-Länge<br />

Die maximale räumliche Distanz zwischen den Teilchen, die für ein Aufrechterhalten<br />

des Plasmazustandes benötigt wird, wird auch als Debye-Länge bezeichnet. Wird einzelnes<br />

geladenes Teilchen (z.B. Elektron) in einer Wolke geladener Teilchen über Zeit<br />

betrachtet, fällt auf, dass im unmittelbaren Bereich um dieses Teilchen eine erhöhte<br />

Dichte von Ladungsträgern, welche zu dem Teilchen entgegengesetzt geladen sind,<br />

vorhanden ist. Das Teilchen erfährt eine Abschirmung nach außen [6]. Durch erhöhte<br />

Wärmeenergie der Teilchen im Plasma ist das abschirmende Coulombpotential ΦC

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