Raster-Tunnel-Mikroskopie - Fakultät für Physik
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Damit können nämlich nicht nur elektrisch leitende, sondern auch isolierende Materialien<br />
‘unter die Nadel’ genommen werden (im wahrsten Sinne des Wortes).<br />
Abb.2.3.1 Atomares Kraftmikroskop [1] (Skizze AFM)<br />
Die extrem feine Spitze S liegt mit einer Kraft von 10 -8 bis 10 -12 N direkt auf der Probenoberfläche<br />
P auf, während sie im <strong>Raster</strong>modus über dieselbe geführt wird. Dabei sorgt die<br />
Piezokeramik A, die über einen Hebelarm H mit der Spitze verbunden ist, für Konstanz dieser<br />
Auflagekraft, indem sie über den Abstandssensor AS und den Regler R entsprechend<br />
angesteuert wird. Das entstehende Bild, das aus den Spannungssignalen an diesen<br />
Piezostellelement gewonnen wird, gibt die Oberflächentopographie, um genauer zu sein, das<br />
Profil konstanter Elektronendichte der Probe wieder, da sich elektrostatische Abstoßung<br />
aufgrund des Überlapps der elektronischen Wellenfunktionen von Probe und Spitze und deren<br />
Auflagekraft gerade die Waage halten.<br />
In diesen Nahfeldbereichen kann man sich natürlich die verschiedensten<br />
Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe zunutze machen. Beim Magnetkraftmikroskop<br />
benutzt man beispielsweise Spitzen aus Eisen oder Nickel, die in Längsrichtung magnetisiert<br />
sind, so daß beim Abrastern magnetischer Bereiche der Probe die magnetische Wechselwirkung<br />
überwiegt.<br />
Das Thermische Nahfeldmikroskop arbeitet mit einem winzigen Thermoelement als<br />
Spitze, das während der Untersuchung der raumtemperierten Probenoberfläche geheizt wird.<br />
Wird die durch diesen Temperaturunterschied erzeugte Thermospannung konstantgehalten,<br />
folgt die Spitze dem Oberflächenprofil. So wurden Auflösungen unter 1000Å erreicht!<br />
Bei der optischen Nahfeldmikroskopie tritt das zur Abbildung benutzte Licht aus einer<br />
Öffnung aus, die wesentlich kleiner als die Wellenlänge selbst ist. Das Bild des damit<br />
beleuchteten Objekts wird entweder aus der Reflexion oder der Transmission gewonnen.<br />
Auflösungen bis zu 1000Å sind erreicht worden! Der Grund für diese hohen Auflösungen, die<br />
wesentlich kleiner als die Wellenlänge des verwendeten Lichts sind, ist der Informationsgehalt<br />
des optischen Nahfeldes, der denjenigen des Fernfeldes weit übersteigt. Man denke<br />
vergleichsweise an das Stethoskop, das eine Art ‘akustisches Nahfeldmikroskop’ darstellt: Hier<br />
werden die Schallwellen nahe an ihrem Entstehungsort über eine im Vergleich zur Wellenlänge<br />
sehr kleine Membran aufgenommen und können am Ohr trotzdem deutlich aufgelöst werden<br />
([1])!<br />
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