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Raster-Tunnel-Mikroskopie - Fakultät für Physik

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Damit können nämlich nicht nur elektrisch leitende, sondern auch isolierende Materialien<br />

‘unter die Nadel’ genommen werden (im wahrsten Sinne des Wortes).<br />

Abb.2.3.1 Atomares Kraftmikroskop [1] (Skizze AFM)<br />

Die extrem feine Spitze S liegt mit einer Kraft von 10 -8 bis 10 -12 N direkt auf der Probenoberfläche<br />

P auf, während sie im <strong>Raster</strong>modus über dieselbe geführt wird. Dabei sorgt die<br />

Piezokeramik A, die über einen Hebelarm H mit der Spitze verbunden ist, für Konstanz dieser<br />

Auflagekraft, indem sie über den Abstandssensor AS und den Regler R entsprechend<br />

angesteuert wird. Das entstehende Bild, das aus den Spannungssignalen an diesen<br />

Piezostellelement gewonnen wird, gibt die Oberflächentopographie, um genauer zu sein, das<br />

Profil konstanter Elektronendichte der Probe wieder, da sich elektrostatische Abstoßung<br />

aufgrund des Überlapps der elektronischen Wellenfunktionen von Probe und Spitze und deren<br />

Auflagekraft gerade die Waage halten.<br />

In diesen Nahfeldbereichen kann man sich natürlich die verschiedensten<br />

Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe zunutze machen. Beim Magnetkraftmikroskop<br />

benutzt man beispielsweise Spitzen aus Eisen oder Nickel, die in Längsrichtung magnetisiert<br />

sind, so daß beim Abrastern magnetischer Bereiche der Probe die magnetische Wechselwirkung<br />

überwiegt.<br />

Das Thermische Nahfeldmikroskop arbeitet mit einem winzigen Thermoelement als<br />

Spitze, das während der Untersuchung der raumtemperierten Probenoberfläche geheizt wird.<br />

Wird die durch diesen Temperaturunterschied erzeugte Thermospannung konstantgehalten,<br />

folgt die Spitze dem Oberflächenprofil. So wurden Auflösungen unter 1000Å erreicht!<br />

Bei der optischen Nahfeldmikroskopie tritt das zur Abbildung benutzte Licht aus einer<br />

Öffnung aus, die wesentlich kleiner als die Wellenlänge selbst ist. Das Bild des damit<br />

beleuchteten Objekts wird entweder aus der Reflexion oder der Transmission gewonnen.<br />

Auflösungen bis zu 1000Å sind erreicht worden! Der Grund für diese hohen Auflösungen, die<br />

wesentlich kleiner als die Wellenlänge des verwendeten Lichts sind, ist der Informationsgehalt<br />

des optischen Nahfeldes, der denjenigen des Fernfeldes weit übersteigt. Man denke<br />

vergleichsweise an das Stethoskop, das eine Art ‘akustisches Nahfeldmikroskop’ darstellt: Hier<br />

werden die Schallwellen nahe an ihrem Entstehungsort über eine im Vergleich zur Wellenlänge<br />

sehr kleine Membran aufgenommen und können am Ohr trotzdem deutlich aufgelöst werden<br />

([1])!<br />

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