Raster-Tunnel-Mikroskopie - Fakultät für Physik
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Zur Bestimmung des Matrixelementes M μν werden die Wellenfunktionen ψ μ bzw. ψ ν<br />
der Spitze bzw. Probe benötigt. Dazu wird das Ende der Spitze näherungsweise als eine Kugel<br />
mit Radius R angenommen (siehe Abb.3.2.1), die durch eine s-Wellenfunktion (d.h.<br />
Drehimpulsquantenzahl l=0) beschrieben wird. Die Wellenfunktionen der Probenoberfläche<br />
entwickelt man nach ebenen Blochwellen 1 ([8]).<br />
Setzt man ferner T=0 und nur kleine <strong>Tunnel</strong>spannungen UT voraus, so gilt:<br />
mit<br />
DT (EF )<br />
( )<br />
ρ r r<br />
0<br />
, E F<br />
3 2 2<br />
he R 2κR<br />
r<br />
I<br />
T<br />
= ⋅ ⋅e ⋅U ⋅D E ⋅<br />
2<br />
0<br />
me<br />
Vol.<br />
Kugel<br />
E<br />
⇔<br />
I = const. ⋅U ⋅D E ⋅<br />
r<br />
, E<br />
( ) ρ( )<br />
T T T F 0 F<br />
( ) ρ( , )<br />
T T F F<br />
Zustandsdichte (Zahl der Zustände pro Energieintervall ΔE) der Spitze bei EF<br />
Zustandsdichte der Probenoberfläche bei EF am Spitzenort<br />
r 0<br />
Da die Zustandsdichte der Spitzenoberfläche bei der Fermi-Energie D T (E F ) im Idealfall<br />
als konstant angesehen werden kann, während sich der Spitzenort r 0<br />
während des Abrasterns<br />
der Probe verändert, fällt sie bei der Betrachtung der Abhängigkeiten des <strong>Tunnel</strong>stroms weg. Es<br />
ist also folgendes festzuhalten:<br />
(1) IT ∝ exp{ −2κ d}<br />
Diese Abstandsabhängigkeit, die schon aus der<br />
eindimensionalen Betrachtung folgte, läßt sich auch im<br />
dreidimensionalen Fall ableiten: Sie verbirgt sich hinter der<br />
Zustandsdichte ρ der Probenoberfläche, in die die im<br />
<strong>Tunnel</strong>spalt exponentiell abklingende Wellen-funktion ψ ν<br />
quadratisch eingeht:<br />
2<br />
ρ( r0, EF) = ∑ Ψ<br />
ν ( r0) δ( Eν<br />
− EF)<br />
ν<br />
(2) IT<br />
∝ UT<br />
Diese Beziehung gilt nur für kleine U T , da ρ( r 0<br />
,E F ) dann<br />
unabhängig von der <strong>Tunnel</strong>spannung ist. Hält man also den<br />
Abstand zwischen Spitze und Probe konstant und fährt mit der<br />
Spannung einen kleinen Bereich um 0V durch, so sollte sich<br />
dieses ohmsche Verhalten im I-U-Diagramm zeigen.<br />
(3) I ( r E )<br />
T<br />
∝ ρ r 0<br />
, Wird der <strong>Tunnel</strong>strom beim Aufnehmen eines Bildes konstant<br />
F<br />
gehalten, so gibt dies Flächen konstanter lokaler Elektronenzustandsdichte<br />
(bei E F ) der Probenoberfläche wieder. Diese<br />
Abbildungseigenschaft ist vor allem bei der Interpretation von<br />
atomar aufgelösten Bildern von enormer Bedeutung.<br />
Daraus folgt, daß RTM Bilder im allgemeinen sowohl Informationen über die<br />
Oberflächentopographie (s.(1)) als auch über die elektronischen Eigenschaften der<br />
Probenoberfläche (s. (3)) zugleich enthalten!<br />
1 1 Blochwellen sind ebene Wellen, die mit einer gitterperiodischen Funktion moduliert werden<br />
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