28.02.2014 Aufrufe

Dissertation_M_Fischer.pdf - OPUS - Universität Augsburg

Dissertation_M_Fischer.pdf - OPUS - Universität Augsburg

Dissertation_M_Fischer.pdf - OPUS - Universität Augsburg

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

6 Zusammenfassung 125<br />

Wesentlich für die weitestgehende Lösung dieser Probleme waren Untersuchungen zum Einsetzen<br />

plastischer Deformationsprozesse im Si-Substrat sowie eine quantitative Analyse der intrinsischen<br />

Schichtspannungen als Funktion der Abscheidetemperatur mittels Röntgenbeugung. Es zeigte sich,<br />

dass auf beiden Wachstumsflächen bei tiefen Temperaturen Druckspannungen aufgebaut werden, die<br />

sich mit zunehmender Temperatur verringern, um dann in den Zugspannungsbereich überzugehen.<br />

Es existieren eindeutige monotone Abhängigkeiten zwischen Temperatur und Spannungen, wobei<br />

die Werte auf (111) gegenüber (001) um ca. 200 ◦ C zu niedrigeren Temperaturen bzw. um 2 GPa zu<br />

höheren Spannungen verschoben sind.<br />

Depositionsexperimente auf HPHT-Einkristallen aus der Hochdrucksynthese belegen, dass es sich<br />

beim Auftreten der intrinsischen Spannungen um ein Phänomen des homoepitaktischen Wachstums<br />

handelt und nicht mit dem Aufbau des Ir/YSZ/Si-Substrats zusammenhängt. Es konnte eine<br />

eindeutige Korrelation zwischen Versetzungsdichten in der Schicht und dem Spannungsaufbau<br />

gemessen werden. Unterhalb einer Schwelle von ca. 10 7 cm −2 kommt es zu keinem Aufbau von<br />

intrinsischen Spannungen. Oberhalb der Schwelle steigt der Betrag der Druckspannungen in (001)-<br />

orientierten Schichten mit der Versetzungsdichte. Bei der höchsten untersuchten Versetzungsdichte<br />

von 6×10 9 cm −2 wurde auch der höchste Druckspannungswert von −5.1 GPa gemessen. Insgesamt<br />

erstreckte sich der Spannungsbereich auf (001) bei den höchsten Abscheidetemperaturen bis<br />

zu Zugspannungen von ca. +0.15 GPa. Auf (111) ergab sich ein Bereich zwischen −1.3 GPa und<br />

+2.7 GPa.<br />

Keines der für CVD-Diamantschichten bis dato diskutierten Modelle für die Entstehung von intrinsischen<br />

Spannungen konnte die experimentellen Beobachtungen auch nur annähernd beschreiben.<br />

Als besondere Herausforderung stellte sich dar, dass ein möglicher Mechanismus sowohl die Entstehung<br />

von Druck- als auch Zugspannungen erklären können muss. Die strenge Korrelation des Auftretens<br />

und des Betrags der Spannungen mit der Versetzungsdichte war ein Hinweis auf die zentrale<br />

Rolle der Versetzungen. Mit dem effektiven Klettern von Versetzungen konnte ein Mechanismus erstmals<br />

für die Entstehung von Spannungen in epitaktischen Diamantschichten vorgeschlagen werden,<br />

der alle beobachteten Phänomene konsistent beschreibt. Abschätzungen ergaben auch quantitativ<br />

sinnvolle Werte. TEM-Untersuchungen, die die Neigung der Versetzungen in den Schichten zeigen<br />

und den Neigungswinkel messen sollten, scheiterten bisher an experimentellen Schwierigkeiten bei<br />

der Probenpräparation von durchstrahlbaren Membranen.<br />

Eine Vielzahl früherer Berichte zu Entstehung von Spannungen, von Rissen und dem selbständigen<br />

Abplatzen von Schichten beim homoepitaktischen Wachstum können nun schlüssig erklärt werden.<br />

Neben der wissenschaftlichen Bedeutung dieser Ergebnisse sind sie auch von enormer technologischer<br />

Relevanz. Sie erlauben nicht nur ein gezieltes Vermeiden von Schichtspannungen, sondern sie liefern<br />

auch ein einfaches Rezept für einen gezielten Aufbau von Druckspannungen in oberflächennahen<br />

Bereichen, um so die Bruchfestigkeit von Diamantbauteilen zu erhöhen.<br />

Theoretische Berechnungen hatten gezeigt, dass Diamantmosaikkristalle das ultimative Material<br />

für die Monochromatisierung von Neutronen mit einer Wellenlänge von 0.3−1 Å wären. Durch<br />

Einsatz von Monochromatoren basierend auf Diamant sollte ein Intensitätsgewinn von bis zu einem<br />

Faktor 4 an Neutronenfluss möglich sein. In Zusammenarbeit mit den drei Neutronenzentren<br />

ILL, FRM II und HZB wurde die Struktur und Neutronenreflektivität (001)-orientierter Diamantmosaikkristalle<br />

mittels Rönten-, Neutronen- und Synchrotronstrahlung untersucht. 1 mm dicke heteroepitaktische<br />

Diamantproben zeigten dabei eine Peakreflektivität von 34% bei einer Wellenlänge<br />

von 1 Å und einer polaren Mosaikbreite von 0.22 ◦ . Damit werden bereits alle bisher eingesetzten<br />

Monochromator-Materialien für diese Wellenlänge überboten. Durch das Stapeln von 1 mm dicken<br />

Kristallen mit einer Fläche von 20×20 mm 2 konnte einerseits die Dicke von 5 mm für Transmissonsmonochromatorelemente<br />

erreicht werden. Gleichzeitig wurde bei diesen Stapeln durch definiertes<br />

gegenseitiges Verkippen eine Feineinstellung der Mosaikbreite vorgenommen. Bei Testmessungen<br />

mit monochromatischen Neutronen konnte demonstriert werden, dass Intensitätsgewinne von einem

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!