Dissertation_M_Fischer.pdf - OPUS - Universität Augsburg
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5.2.2 Röntgentexturuntersuchungen zum heteroepitaktischen Wachstum<br />
(001)-orientierter Diamantschichten auf Ir/YSZ/Si(001) 61<br />
• kleine Spannungen, homogen<br />
• Die Formel beeinhaltet keine Eigenschaften der Schicht und keine Spannungsverteilung in der<br />
Schicht<br />
Die Stoneyformel lässt sich nur für dünne Schichten anwenden. Als Beispiel errechnet sich für<br />
eine Diamantschicht mit 20 µm Dicke und biaxialen Druckspannungen von −2 GPa auf einem<br />
Siliziumsubstrat mit 3 mm Dicke ein Biegeradius von 8 m.<br />
Für die Messung der Verbiegung eines Substrat-Schichtverbundes gibt es eine Vielzahl von technischen<br />
Möglichkeiten. Sie reichen von mechanischem Abtasten mit einem Profilometer über optische<br />
Messung des gesamten Oberflächenprofils bis hin zu optischen und kapazitiven in-situ Messmethoden.<br />
Bei den vorliegenden Diamantschichten sind diese Methoden durchweg mit einem zu großen<br />
Fehler behaftet, da bei den oft dicken Filmen eine Dickenvariation direkt in den Fehler des Biegeradius<br />
eingeht. Die Messung der Netzebenennormalen für epitaktische Schichten oder für das Substrat<br />
ist völlig unempfindlich gegen diese Art von Fehler und kann mit Hilfe des Hochauflösungsdiffraktometers<br />
nicht zuletzt wegen der Parallelstrahlgeometrie sehr präzise und einfach durchgeführt werden<br />
(siehe Kap. 3.1.4).<br />
Abbildung 5.20 300 µm Diamant auf Ir/YSZ/Si(001)-4 ◦ -off-axis-Substrat: a) ω-Scans des Dia (004)-<br />
Reflexes an unterschiedlichen lateralen Positionen auf der Probe. b) Verschiebung der Rockingkurve mit der<br />
Position<br />
Abbildung 5.20 zeigt Rockingkurven einer verbogenen Diamantschicht (ca. 300 µm), die in lateralen<br />
Abständen von 1 mm auf der Probe gemessen wurden. Deutlich zu sehen ist, dass sich die<br />
Maxima der Rockingkurven zu größeren ω-Werten hin verschieben. Aus dieser Verschiebung und<br />
der lateralen Position lässt sich dω/dx bestimmen, woraus sich wiederum ein Biegeradius von 1.1 m<br />
berechnen lässt.<br />
Sobald bei einem Substrat eine merkliche Verbiegung einsetzt, ändert sich auch der Spannungszustand<br />
in der Schicht. Im Folgenden wird nun an dünnen Schichten (