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EPP 5-6.2020

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TEST + QUALITÄTSSICHERUNG<br />

Hochauflösendes OLED-Mikrodisplay für AR-Anwendungen<br />

Vorteile durch deutlich<br />

genauere Messergebnisse<br />

Hochauflösende OLED-Mikrodisplays<br />

von Sony Semiconductor Solutions für<br />

AR-Anwendungen.<br />

Framos, ein globaler Partner für Vision-Technologien,<br />

bietet mit der neuen Mikrodisplay-<br />

Serie ECX335S von Sony Semiconductor Solutions<br />

ab sofort eine Lösung an, die sich aufgrund<br />

ihrer hervorragenden Eigenschaften<br />

hinsichtlich Helligkeit, Kontrast, Auflösung<br />

und großem Blickwinkel für den stark wachsenden<br />

Markt von Augmented-Reality(AR)-<br />

Geräten eignet, beispielsweise für Head<br />

Mounted Display (HMDs), elektronische Sucher<br />

(VFs) und als kleine Monitore.<br />

Dabei handelt es sich um ein OLED-Panel-<br />

Modul mit Active-Matrix-Color-Design, einer<br />

Helligkeit von bis zu 3.000 cd/m² und einer<br />

Full-HD-Auflösung von 1.920 x 1080 RGB-Pixeln<br />

in einer Diagonalen von 1,8 cm<br />

(0,71 inch). Auch bei geringer Leistungsaufnahme<br />

ist eine Bildrate von 60 fps möglich.<br />

AR-Anwendungen erfordern eine Helligkeit<br />

von über 1.000 cd/m².<br />

Das bedeutet für das OLED-Mikrodisplay,<br />

Foto: Framos<br />

dass es, bedingt durch die Übertragungsverluste<br />

während der Projektion, mindestens einen<br />

Sollwert von 3.000 cd/m² aufweisen<br />

muss. Durch eine geschickte Kombination<br />

verschiedener Maßnahmen wurde die Helligkeit<br />

der OLED-Mikrodisplays im Vergleich<br />

zum Vorgänger bei gleichbleibender Lebensdauer<br />

um das Dreifache. Mit seinen Helligkeitseigenschaften,<br />

dem extrem kleinen<br />

Formfaktor (21,44 mm x 15,62 mm) und einem<br />

Kontrastverhältnis von 100.000:1 wird<br />

dieses Modul die Entwicklung innovativer<br />

AR-Lösungen weiter vorantreiben. Informationsebenen<br />

im HMD und VF werden kontrastreich<br />

und nahtlos eingeblendet und sorgen<br />

so für ein reales AR-Erlebnis.<br />

www.framos.com<br />

Foto: Framos<br />

Mikrofokus-Röntgenröhre XWT-225-TCNF Plus.<br />

Produktlinie TCNF Plus ist für Anwendungen<br />

geeignet, die höchste Auflösungen bis hinunter<br />

zu 0.5 Mikrometern erfordern. X-RAY WorX<br />

erweitert diese Produktlinie mit den Produkten<br />

XWT-225-TCNF Plus und XWT-240-TCNF<br />

Plus nun um zwei weitere Modelle, die über<br />

eine maximale Hochspannung von 225 kV<br />

bzw. 240 kV verfügen. Merkmale sind die Targetkühlung<br />

sowie die Innenkühlung des Röhrenkopfes.<br />

Diese Kombination ermöglicht eine<br />

Targetleistung von bis zu 50 W und ein<br />

Höchstmaß an Brennfleckstabilität. Der Einsatz<br />

der Mikrofokus-Röntgenröhren bei hochauflösende<br />

CT-Anwendungen liefert deutlich<br />

genauere Messergebnisse, was für die industrielle<br />

Metrologie und die Materialforschung<br />

Vorteile bringt. Die Röhren eignen sich für<br />

hochauflösende Anwendungen und für Anwendungen,<br />

bei denen eine hohe Leistung zur<br />

Reduktion von Scanzeiten erforderlich ist.<br />

www.x-ray-worx.com<br />

Foto: X-RAY WorX<br />

Vorteilhafte Konvertierung älterer Testsoftware<br />

Ein Kunde des Testdienstleisters endtest<br />

GmbH nutzt ein älteres Spea System mit<br />

ATOS2 Software, vier Nadeln und einem<br />

sechs Nadelsystem mit Leonardo XA. Angelegte<br />

Projekte in ATOS2 sind zwar nach Leonardo<br />

XA konvertierbar, jedoch nicht rückwärts.<br />

Da die Bestückungsprojekte des EMS<br />

Dienstleisters stets zeitkritisch sind, müssen<br />

die vorangehenden Funktionstests entsprechend<br />

kurzfristig durchgeführt werden. „Wir<br />

generieren die Prüfapplikation, testen die<br />

ersten Karten für die Vorserie und der Kunde<br />

installiert unsere Prüfapplikation dann für seine<br />

Serienfertigung“, bemerkt endtest Geschäftsführer<br />

Sinan Saglar.<br />

„Erfahrungsgemäß wissen wir, dass sich ältere<br />

Testsysteme im Markt befinden und bieten<br />

deshalb auch Prüfapplikationen basierend<br />

auf ATOS-Struktur an. Dies hat den Vorteil,<br />

dass die vom Kunden beigestellte Prüfapplikation<br />

weiterhin genutzt wird. Deshalb bestimmt<br />

der Kunde im Vorfeld, auf welchem<br />

System er sein Projekt laufen lassen will. Er<br />

erzielt dadurch eine bessere Auslastung sowie<br />

einen schnelleren Durchsatz.“ Aus dem<br />

aktuellen Vier-Nadel-System, werden jedoch<br />

auch problemlos Programme für sechs Na-<br />

deln generiert – und zwar vier Top und zwei<br />

Bottom. Die zwei Tests für die Bottom-Kontaktierung<br />

aktiviert der Kunde je nach Bedarf.<br />

Die Lösung des Testdienstleisters liegt in einem<br />

zusätzlichen Programm für die zweite<br />

Seite, bei der der Prüfling einfach gedreht<br />

wird.<br />

www.endtest.de<br />

Foto: endtest<br />

Vorteilhafte<br />

Konvertierung älterer<br />

Testsoftware.<br />

72 <strong>EPP</strong> Mai/Juni 2020

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