10-2020
Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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Messtechnik<br />
Automatische EMV-Messungen an ICs dank neuartiger<br />
Kontaktspitzen<br />
HF-Spannungsmesser P750 mit neuer Kontaktspitze und Kontakterkennung<br />
Federkontakt im Detail<br />
Im Zuge der Forschungs- und<br />
Entwicklungsarbeit der Langer<br />
EMV-Technik GmbH wurde<br />
Anfang <strong>2020</strong> eine neue IC-<br />
Probe-Generation realisiert, welche<br />
mit einem flexiblen Federkontakt<br />
als Spitze und visuell<br />
überprüfbarer Kontakterkennung<br />
ausgestattet ist. Dies ermöglicht<br />
nicht nur eine deutlich präzisere<br />
Kontaktierung mit dem IC-Pin,<br />
sondern ebenfalls Messungen<br />
von ICs in BGA-Gehäusen<br />
und einen unkomplizierten und<br />
schnellen Austausch der Spitzen.<br />
20 Jahre Erfahrung<br />
Langer EMV-Technik kann<br />
bereits auf über 20 Jahre Erfahrung<br />
im Bereich der IC-Messtechnik<br />
und Messdienstleistung<br />
zurückblicken. In diesen Jahren<br />
wurde das IC-Testsystem mit<br />
zahlreichen Messmethoden für<br />
leitungsgeführte und feldgebundene<br />
IC-Tests permanent weiterentwickelt<br />
und optimiert. Das<br />
IC-Testsystem umfasst Messtechnik,<br />
mit der verschiedenste<br />
EMV-Messungen an ICs leitungs-<br />
und feldgebunden durchgeführt<br />
werden können.<br />
Mit leitungsgebundenen<br />
IC-Probes<br />
lassen sich normative Bewertungen<br />
der Störaussendung<br />
(IEC 61967) und der Störfestigkeit<br />
(IEC 62132; IEC 62215)<br />
oder auch entwicklungsbegleitende<br />
Untersuchungen durchführen.<br />
Dazu gehören u.a. die<br />
leitungsgeführte Aussendung,<br />
DPI (Direct Power Injection)<br />
sowie die EFT-Pulseinkopplung.<br />
Die hohe Messdynamik und Genauigkeit<br />
bei der Kontaktierung<br />
der neuen IC-Probes erlaubt die<br />
automatische Ausmessung komplexer<br />
ICs mit dem IC-Testautomat<br />
ICT1. Der ICT1 ist ein<br />
Positioniersystem für IC-Messgeräte<br />
der Langer EMV-Technik<br />
GmbH, um automatisierte EMV-<br />
Tests an ICs durchzuführen.<br />
Kontakterkennung über<br />
einen Taster aktivieren<br />
Erfolgt die IC-Probe per Hand,<br />
lässt sich die Kontakterkennung<br />
über einen Taster aktivieren<br />
und mittels der integrierten<br />
LED visuell überprüfen. Je<br />
nach Anwendung und Messaufgabe<br />
kann es erforderlich sein,<br />
unterschiedliche Kontaktspitzen<br />
mit beispielsweise unterschiedlicher<br />
Länge einzusetzen. Dies<br />
ist auch problemlos möglich,<br />
da die Federkontakte über eine<br />
Verschraubung leicht wechselbar<br />
sind.<br />
Auf einen Blick:<br />
• verbesserter Pin-Kontakt<br />
mit präziserer Kontaktierung<br />
(Pitch bis 0,4 mm möglich)<br />
• Automatisierbarkeit mit IC-<br />
Testautomat ICT1<br />
• Messung von ICs in BGA-<br />
Gehäusen<br />
• leicht austauschbare Kontaktspitze<br />
– es sind je nach Anwendung<br />
individuelle Kontaktspitzen<br />
möglich.<br />
• visuelle Kontakterkennung ◄<br />
Langer EMV-Technik GmbH<br />
www.langer-emv.de<br />
Schematische Kontaktierung eines Koppelpads<br />
64 hf-praxis <strong>10</strong>/<strong>2020</strong>
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