4 Optische Eigenschaften des strukturier - JUWEL ...

3. Herstellung, Präparation und Charakterisierung der Substrate und Solarzellen
ten Licht gesetzt werden. Man erhält dann als Maß für das Streuvermögen einer Schicht den
sogenannten spektralen Haze in Transmission Htrans bzw. Reflexion Hrefl:
TD
( �)
H trans ���� Gl. 3.3
T ( �)
T
RD
( �)
H refl ���� Gl. 3.4
R ( �)
T
� �ist die Wellenlänge des einfallenden Lichts. In anderen Arbeiten wird diese Definition mit
TIS (total integrated scattering) bezeichnet (siehe Wallinga [47] und Bennett [48]). Man beachte,
dass der Haze keine Information über die Winkelverteilung des gestreuten Lichts liefert.
3.4.2 Winkelabhängige Streumessungen
Um Informationen über die Winkelverteilung des gestreuten Lichts zu erhalten, wurde die
winkelabhängige Streuverteilung mit einem Photogoniometer gemessen. Der prinzipielle
Aufbau der Anordnung ist in Abbildung 3.10 dargestellt.
Laser
Blende
Probe
Abbildung 3.10: Messprinzip zur Messung winkelabhängiger Streuung.
R
d�
�
Detektor
Die Substrate werden mit verschiedenen Lasern, welche unterschiedliche Wellenlänge haben,
bestrahlt. Eine Photodiode misst die Lichtstreuung, die von der Probe ausgeht. Zur Messung
unterschiedlicher Winkel kann die Photodiode auf einer Kreisbahn konzentrisch um das
Streuzentrum der Probe bewegt werden. Mit dem Photogoniometer wird der Kurzschlussstrom
der Photodiode gemessen, der über einen Vorverstärker einem Lock-in Verstärker zu-
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