4 Optische Eigenschaften des strukturier - JUWEL ...

3. Herstellung, Präparation und Charakterisierung der Substrate und Solarzellen
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Abbildung 3.14: Schematischer Aufbau des DSR-Meßplatzes.
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Der schematische Aufbau des DSR-Meßplatzes ist der Abbildung 3.14 zu entnehmen. Als
Beleuchtungsquelle dient eine Xenonlampe (1), deren Licht mittels eines Kantenfilterrades
(5) und eines Monochromators (4) in seine spektralen Anteile zerlegt wird. Um ein gutes Signal-Rauschverhältnis
zu erhalten, wird das Licht mit einem Chopper (2) moduliert und über
ein Linsensystem (6) auf einen Strahlteiler (7) abgebildet. Damit eine absolute Messung möglich
ist, wird mit einer Referenzdiode (14) bekannter spektraler Empfindlichkeit eine Vergleichsmessung
durchgeführt. Dazu wird das Licht mit einer Linse (13) auf die Referenzdiode
fokussiert. Der Messstrahl wird über eine Optik (8) auf die Probe (9) abgebildet und erzeugt
dort einen Photostrom. Dieser wird in eine Spannung umgeformt, welche schließlich vom
Lock-in Verstärker (12) gemessen wird. Es sind Messungen im Wellenlängenbereich zwischen
300 und 1100 nm möglich: Sie erfolgen in Intervallen von 10 nm, wobei die spektrale
Breite des Messspots weniger als 10 nm beträgt. Mittels einer Spannungsquelle (10) kann der
Solarzelle eine Biasspannung eingeprägt werden. Damit kann die Quantenausbeute der Solarzelle
bei unterschiedlichen Spannungsbedingungen gemessen werden.
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