Entwicklung und Charakterisierung eines metallischen Substrats für ...
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Ergebnisse <strong>und</strong> Diskussion<br />
Abbildung 4.38: a) Querschliff der Co-SiO2-Membran (vier Schichten) auf einem SIKA R3AX-<br />
Substrat aus 1.4404 mit 1.4845-, 8YSZ- (Standardsuspension) <strong>und</strong> γ-Al2O3-Zwischenschicht, b)<br />
Detailaufnahme der 1.4845-Zwischenschicht, c) <strong>und</strong> d) EDX-Analysen der Oxidschichten<br />
Abbildung 4.39: Oxidschicht zwischen<br />
der 1.4845-Schicht <strong>und</strong> der 8YSZ-Schicht.<br />
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