pdf, 4.2 Mb - Walther Meißner Institut - Bayerische Akademie der ...

4.4 Transmissions-Elektronen-MikroskopieM s( B/f.u.)2,42,22,01,81,61,41,21,00,80,60,40,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1,0 1,1 1,2 1,3 1,4 1,5Lanthan-Dotierung xAbbildung 4.26: Sättigungsmagnetisierungen pro Formeleinheit (f. u.) für verschiedenex bei T = 5 KSchluss auf Fremdphasen zu, deren nicht definierte kristalline Eigenschaften keineeindeutige Auswertung der Magnetisierungsmessungen in diesem Bereich erlaubenwürden. Eine analoge Betrachtung gilt für die in Abbildung 4.27 auf der nächstenSeite dargestellten spezifischen remanenten Magnetisierungen, die den gleichen Verlaufaufweisen wie die Sättigungsmagnetisierungen.Aus dem Verlauf der Magnetisierungsdichte in Abhängigkeit von der Temperaturkonnte mit dem zuletzt angewandten Versuchsaufbau mit dem Messingrohr als Probenträgerdie Curie-Temperatur einer Probe mit x = 0,5 als T C ≈ 540 K bestimmtwerden [32], was deutlich oberhalb der Curie-Temperatur von 458 K von undotiertemSr 2CrWO 6liegt.4.4 Transmissions-Elektronen-MikroskopieElektronenmikroskopie ermöglicht hoch aufgelöste Aufnahmen von Proben, wobei dieAuflösung bis in den atomaren Bereich gehen kann. Diese hohe Auflösung wird mitschnellen Elektronen erreicht, deren hoher Impuls nach der De-Broglie-Beziehung (4.1)auf Seite 35 eine geringe Wellenlänge bedingt. Auch lassen sich Informationen über dieelementare Zusammensetzung verschiedener Proben gewinnen. Bei den Elektronenmikroskopenwird zwischen Transmissions-Elektronen-Mikroskopie (TEM – T ransmissionElectron M icroscopy) und Raster-Elektronen-Mikroskopie (SEM – Scanning Electron67