EPP 10.2017
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Vergleich: Selektivlötprozess einer OSP-beschichteten Leiterplatte<br />
mit LMPA-Q sowie SnCu-basierten Legierung<br />
LMPA-Q<br />
SnCu-basierte Legierung<br />
285°C<br />
Fresh OSP<br />
OSP 200°C<br />
OSP 240°C<br />
Fresh OSP<br />
OSP 200°C<br />
OSP 240°C<br />
5mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100%<br />
10mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100%<br />
100%<br />
100%<br />
-100%<br />
20mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100% *<br />
-100%<br />
-100%<br />
-100% *<br />
30mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100% *<br />
-70%<br />
-70%<br />
-70% *<br />
40mm/s<br />
100%<br />
100%<br />
-100% *<br />
-70%<br />
-70%<br />
-70% *<br />
260°C<br />
Fresh OSP<br />
OSP 200°C<br />
OSP 240°C<br />
Fresh OSP<br />
OSP 200°C<br />
OSP 240°C<br />
5mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100%<br />
100%<br />
100%<br />
-100%<br />
10mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100% *<br />
-70%<br />
-70%<br />
-70%<br />
20mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
100% *<br />
-70%<br />
-70%<br />
-70% *<br />
30mm/s<br />
100%<br />
100%<br />
-100% *<br />
-70%<br />
-70%<br />
-70% *<br />
40mm/s<br />
-100%<br />
-100%<br />
-100% *<br />
-70%<br />
-70%<br />
-70% *<br />
230°C<br />
Fresh OSP<br />
OSP 200°C<br />
OSP 240°C<br />
Fresh OSP<br />
OSP 200°C<br />
OSP 240°C<br />
5mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
+100%<br />
10mm/s<br />
20mm/s<br />
30mm/s<br />
+100%<br />
+100%<br />
-100%<br />
+100%<br />
+100%<br />
-100%<br />
+100% *<br />
100% *<br />
-100% *<br />
Nicht getestet,<br />
zu dicht beim<br />
Schmelzpunkt<br />
40mm/s<br />
-100%<br />
-100%*<br />
-100% *<br />
Lötergebnisse.<br />
* Erste Zeichen von nicht Benetzung der OSP-Beschichtung auf der Lötseite der Leiterplatte<br />
Damit können genügend Testergebnisse generiert werden, um ein<br />
Durchstiegsverhalten beurteilen zu können. Die zusätzliche<br />
Schwierigkeit der Brückenbildung des Steckers fällt ausserhalb des<br />
Erfassungsbereiches dieser Fallstudie. Ein DD3 Stecker findet oft in<br />
der Computertechnologie für ‚board-to-board‘-Verbindungen seinen<br />
Einsatz.<br />
Die Tests werden auf einer Ecoselect 1 Selektivlötanlage von Ersa<br />
durchgeführt, unter Verwendung einer Standard SnCu Legierung<br />
und der niedrigschmelzenden Legierung LMPA-Q. Eine 14-mm-Düse<br />
erlaubt den Stecker in einem Vorgang zu löten. Die benetzbare<br />
Stickstoff-umflutete Düse gewährleistet stabile und wiederholbare<br />
Lötbedingungen. Als Flussmittel wird das wasserbasierte SelectIF<br />
2040 für alle Leiterplatten eingesetzt. Um Prozesszeit einsparen zu<br />
können, werden beim Selektivlöten zeitweilig tiefere Vorheiztemperaturen<br />
in Kombination mit höheren Löttemperaturen verwendet.<br />
Eine Vorheizung von 80°C, gemessen an der Oberseite der Leiterplatte,<br />
wird für alle Leiterplatten angewandt. Der Test startet mit<br />
einer Löttemperatur von 285°C für beide Legierungen. Dabei handelt<br />
es sich um eine Standardtemperatur für das Selektivlöten mit<br />
konventionellen bleifreien Legierungen. Die Löttemperatur wird<br />
schrittweise reduziert. Für jede Löttemperatur wird die Lötgeschwindigkeit<br />
schrittweise erhöht, mit 5 mm/s als Anfangsgeschwindigkeit.<br />
Testergebnisse und Diskussion<br />
Alle Leiterplatten werden unter einem Mikroskop und mit X-Ray inspiziert.<br />
Der Durchstieg wird in 4 Kategorien unterverteilt:<br />
1) +100 % bedeutet dass die Durchkontaktierung vollständig gefüllt<br />
ist mit Meniskus.<br />
2) 100 % bedeutet dass die Durchkontaktierung vollständig gefüllt<br />
ist ohne Meniskus<br />
3) –100 % bedeutet dass die Durchkontaktierung zwischen 70 %<br />
und 100 % gefüllt ist<br />
4) –70 % bedeutet dass die Durchkontaktierung weniger als 70 %<br />
gefüllt ist.<br />
<strong>EPP</strong> Oktober 2017 49