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EPP 10.2017

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Vergleich: Selektivlötprozess einer OSP-beschichteten Leiterplatte<br />

mit LMPA-Q sowie SnCu-basierten Legierung<br />

LMPA-Q<br />

SnCu-basierte Legierung<br />

285°C<br />

Fresh OSP<br />

OSP 200°C<br />

OSP 240°C<br />

Fresh OSP<br />

OSP 200°C<br />

OSP 240°C<br />

5mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100%<br />

10mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100%<br />

100%<br />

100%<br />

-100%<br />

20mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100% *<br />

-100%<br />

-100%<br />

-100% *<br />

30mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100% *<br />

-70%<br />

-70%<br />

-70% *<br />

40mm/s<br />

100%<br />

100%<br />

-100% *<br />

-70%<br />

-70%<br />

-70% *<br />

260°C<br />

Fresh OSP<br />

OSP 200°C<br />

OSP 240°C<br />

Fresh OSP<br />

OSP 200°C<br />

OSP 240°C<br />

5mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100%<br />

100%<br />

100%<br />

-100%<br />

10mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100% *<br />

-70%<br />

-70%<br />

-70%<br />

20mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

100% *<br />

-70%<br />

-70%<br />

-70% *<br />

30mm/s<br />

100%<br />

100%<br />

-100% *<br />

-70%<br />

-70%<br />

-70% *<br />

40mm/s<br />

-100%<br />

-100%<br />

-100% *<br />

-70%<br />

-70%<br />

-70% *<br />

230°C<br />

Fresh OSP<br />

OSP 200°C<br />

OSP 240°C<br />

Fresh OSP<br />

OSP 200°C<br />

OSP 240°C<br />

5mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

+100%<br />

10mm/s<br />

20mm/s<br />

30mm/s<br />

+100%<br />

+100%<br />

-100%<br />

+100%<br />

+100%<br />

-100%<br />

+100% *<br />

100% *<br />

-100% *<br />

Nicht getestet,<br />

zu dicht beim<br />

Schmelzpunkt<br />

40mm/s<br />

-100%<br />

-100%*<br />

-100% *<br />

Lötergebnisse.<br />

* Erste Zeichen von nicht Benetzung der OSP-Beschichtung auf der Lötseite der Leiterplatte<br />

Damit können genügend Testergebnisse generiert werden, um ein<br />

Durchstiegsverhalten beurteilen zu können. Die zusätzliche<br />

Schwierigkeit der Brückenbildung des Steckers fällt ausserhalb des<br />

Erfassungsbereiches dieser Fallstudie. Ein DD3 Stecker findet oft in<br />

der Computertechnologie für ‚board-to-board‘-Verbindungen seinen<br />

Einsatz.<br />

Die Tests werden auf einer Ecoselect 1 Selektivlötanlage von Ersa<br />

durchgeführt, unter Verwendung einer Standard SnCu Legierung<br />

und der niedrigschmelzenden Legierung LMPA-Q. Eine 14-mm-Düse<br />

erlaubt den Stecker in einem Vorgang zu löten. Die benetzbare<br />

Stickstoff-umflutete Düse gewährleistet stabile und wiederholbare<br />

Lötbedingungen. Als Flussmittel wird das wasserbasierte SelectIF<br />

2040 für alle Leiterplatten eingesetzt. Um Prozesszeit einsparen zu<br />

können, werden beim Selektivlöten zeitweilig tiefere Vorheiztemperaturen<br />

in Kombination mit höheren Löttemperaturen verwendet.<br />

Eine Vorheizung von 80°C, gemessen an der Oberseite der Leiterplatte,<br />

wird für alle Leiterplatten angewandt. Der Test startet mit<br />

einer Löttemperatur von 285°C für beide Legierungen. Dabei handelt<br />

es sich um eine Standardtemperatur für das Selektivlöten mit<br />

konventionellen bleifreien Legierungen. Die Löttemperatur wird<br />

schrittweise reduziert. Für jede Löttemperatur wird die Lötgeschwindigkeit<br />

schrittweise erhöht, mit 5 mm/s als Anfangsgeschwindigkeit.<br />

Testergebnisse und Diskussion<br />

Alle Leiterplatten werden unter einem Mikroskop und mit X-Ray inspiziert.<br />

Der Durchstieg wird in 4 Kategorien unterverteilt:<br />

1) +100 % bedeutet dass die Durchkontaktierung vollständig gefüllt<br />

ist mit Meniskus.<br />

2) 100 % bedeutet dass die Durchkontaktierung vollständig gefüllt<br />

ist ohne Meniskus<br />

3) –100 % bedeutet dass die Durchkontaktierung zwischen 70 %<br />

und 100 % gefüllt ist<br />

4) –70 % bedeutet dass die Durchkontaktierung weniger als 70 %<br />

gefüllt ist.<br />

<strong>EPP</strong> Oktober 2017 49

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