EPP 05-06.2022
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TEST & QUALITÄTSSICHERUNG » Produkt-News<br />
Optimierte Reinigungsintervalle von Präzisions-Nadelkarten<br />
Systemzeit für Tests erhöht<br />
Advantest Corporation, Anbieter von<br />
Halbleitertestsystemen, kündigte die<br />
branchenweit erste ACS Adaptive Probe<br />
Cleaning (APC) Lösung an und optimiert<br />
damit den Reinigungszyklus von Probe<br />
Cards. Als Teil des offenen ACS Lösungsökosystems<br />
des Unternehmens hat sich<br />
APC bereits bei Kunden in Asien und<br />
Europa bewährt. STMicroelectronics hat<br />
die Lösung an zwei seiner Produktionsstandorte<br />
installiert. Dadurch konnten die<br />
Reinigungszyklen erheblich verkürzt, und<br />
somit die Ausbeute beachtlich verbessert,<br />
die Lebensdauer der Probe Card verlängert<br />
sowie die verfügbare Systemzeit für<br />
Tests erhöht werden. Während es viele<br />
Methoden gibt, um die Testzeit und -kos-<br />
ten zu reduzieren, stellen die Kosten für<br />
Probe Cards eine neue Herausforderung<br />
dar. Die steigende Anzahl der Probenadeln<br />
und die zunehmende funktionale Komplexität<br />
führt zu einer Erhöhung der Hardwarekosten<br />
in Bezug auf Wartung und<br />
Lebenszyklusmanagement. In der Regel<br />
wenden Chiphersteller eine Online Reinigungsmethode<br />
mit festen Zyklen an. Die<br />
Festlegung der Zyklen erfolgt mit Hilfe einer<br />
Lernkurve, die das ideale Verhältnis<br />
von Reinigungsintervall und Ausbeute ermittelt.<br />
Beim Ramp-up von neuen ICs<br />
dauert dies verhältnismäßig lang und erzeugt<br />
unnötige Verluste.<br />
Advantest führt den innovativen, adaptiven<br />
Intervall-Ansatz zur Reinigung von<br />
Optimierter<br />
Reinigungs -<br />
zyklus von<br />
Probe Cards<br />
Bild: Advantest<br />
Prüfspitzen ein. Das Tool nutzt KI-Algorithmen,<br />
um den Verschmutzungsgrad der<br />
Nadeln zu ermitteln und sie nur dann zu<br />
reinigen, wenn die Ausbeute beeinträchtigt<br />
ist. Damit wird die Reinigungshäufigkeit<br />
drastisch reduziert. Das maschinelle<br />
Lernmodell verwendet die Testergebnisse<br />
des ersten Wafers mit einem vordefinierten<br />
Reinigungszyklus, um das Fehlerbild<br />
zu erlernen und geht dann zur entsprechend<br />
angepassten Reinigung für die<br />
restlichen Wafer desselben Loses über.<br />
Die Bewertung nimmt pro Wafer nur wenig<br />
Zeit in Anspruch, ohne den Testdurchsatz<br />
zu beeinträchtigen.<br />
Die neue Adaptive Probe Cleaning Lösung<br />
Cloud Solutions (ACS) arbeitet mit allen<br />
bestehenden ATE-Plattformen und Wafer<br />
Probern. Sie erfordert weder Programmänderungen<br />
noch die Verwendung spezifischer<br />
parametrischer Daten. Es wurde<br />
bewiesen, dass die Lösung reibungslos in<br />
Kombination mit dualen Probe Card Reinigungssystemen<br />
bei unterschiedlichen<br />
Reinigungsintervallen funktioniert.<br />
www.advantest.com<br />
3D Digitalmikroskop steigert Produktivität<br />
Lückenlose Fehlerdokumentation für effiziente<br />
Prozesse<br />
Um die Belastung von Mitarbeitern zu minimieren<br />
und die Konzentration bei diffizilen<br />
Arbeiten hoch zu halten, bietet Paggen<br />
mit dem 3D Digitalmikroskop Scalereo eine<br />
echte Alternative zu altbewährten Stereo-<br />
Mikroskopen. Die Anordnung erlaubt eine<br />
aufrechte, ergonomische Haltung beim Arbeiten,<br />
steigert die Produktivität und sorgt<br />
so für mehr Effizienz. Es wird selbst von<br />
Mitarbeitern akzeptiert, die bisher mit einem<br />
klassischen Mikroskop nicht zurechtkommen,<br />
denn statt des gebeugten Blicks<br />
durch ein Okular, sehen sie den Arbeitsbereich<br />
nun mühelos und bei herausragender<br />
3D-Tiefenschärfe auf dem 3D-Monitor. Beleuchtungsregelung<br />
und Bildspeicherung<br />
erfolgen bequem über die frei bewegliche<br />
Steuerungs-Toolbar. Der schnelle Autofokus<br />
und eine gleichmäßige LED-Ausleuchtung<br />
des Arbeitsbereiches erhöhen den<br />
Komfort zusätzlich.<br />
Die neue 3D Technologie mit optimaler<br />
Bildtrennung der Bildinformationen zwischen<br />
linkem und rechtem Auge, macht<br />
eine 3D-Brille überflüssig und gestattet<br />
trotzdem einen einzigartigen 3D Eindruck.<br />
Betrachtungsabstand zum autostereoskopischen<br />
3D-Monitor und Arbeitsabstand<br />
sind nahezu identisch und<br />
verhindern somit ein schnelles Ermüden<br />
der Augen. Der Vergrößerungsfaktor ist<br />
stufenlos bis 20-fach einstellbar (10-fach<br />
optisch + 2-fach Digitalzoom) und für<br />
Nacharbeiten sowie schnelle optische<br />
Kontrollen ausgelegt. Zusätzlich zum Gewinn<br />
an Ergonomie ergeben sich mit Scalereo<br />
Desk auch die Vorteile der Digitalisierung,<br />
denn jedes Fehlerbild lässt sich<br />
spielend einfach digital abspeichern. Eine<br />
lückenlose Fehlerdokumentation wird so<br />
möglich. Deshalb wird das Scalereo auch<br />
gerne für weitere Anwendungen genom-<br />
Scalereo Desk – digital und in 3D ohne Brille<br />
men, wo Nutzer die Tiefe des Objekts auf<br />
dem 3D Bildschirm in einem weiten Bereich<br />
optimal sehen müssen. So unterstützt<br />
das 3D Mikroskop bei der Qualitätskontrolle,<br />
beim Löten, Kleben und<br />
Montieren oder bei der Inspektion. Mit<br />
dem 3D Bildschirm mit Hochgeschwindigkeits-Stereokamera<br />
und Bildverarbeitung<br />
erfolgt die Arbeit noch präziser und<br />
effizienter. Das Mikroskop ist in zwei Varianten<br />
verfügbar.<br />
www.paggen.de<br />
Bild: Paggen<br />
86 <strong>EPP</strong> » <strong>05</strong>-06 | 2022
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