UIB Universitat de les Illes Balears

TECNOLOGIA ELECTRÒNICA
Investigador Principal
Dr. Eugeni Garcia Moreno (CU)
Membres
Dr. Sebastià Bota Ferragut (TU)
Dr. Eugeni Isern Riutort (TU)
Dr. Miquel Roca Adrover (TU)
Dr. Jaume Segura Fuster (TU)
Dr. Oscar Calvo Ibáñez (TEU)
Dr. Josep Lluís Rosselló Sanz (TEU)
Sra. Carola de Benito Crosetti (TEU)
Sr. Joan Font Rosselló (TEU)
Sr. Bartomeu Alorda Ladaria (P. Col)
Sr. Rodrigo Picos Gayà (P. Col)
Sr. Jaume Verd Martorell (Associat)
Dr. Gerardo Acosta Lazo (Investigador Marie Curie.)
Sr. Ivan de Paul Bernal (Contractat projecte CICYT)
Sr. Kay Suenaga portugués (Becario proyecto CICYT)
Sr. Vicenç Canals Guinand (Becario proyecto INTEL)
Sr. Marcos Rosales Palou (Becario CAIB)
Línies de Recerca
• Disseny microelectrònic.
• Sensors basats en sistemes micro- i nano-electromecànics (M/NEMS).
• Caracterització de dispositius VLSI.
• Mètodes de test avançat de CI.
• Sistemes electrònics d'instrumentació i control.
• Robots mòbils autònoms.
Publicacions en llibres
Autors: Segura, J.; Hawkins, C.; Soden, J. Títol: 'Failure mechanisms and Testing in
nanometer technologies'. Referència: Testing CMOS VLSI Circuits, Ed. Springer.
Clau: Capítol de llibre.
Autors: Moll, F.; Roca, M. Títol: 'Interconect Noise inside integrated circuits.'
Referència: Kluwer Academic Publishers. ISBN 1-4020-7733-5. Clau: Llibre.
Autors: Segura J.; Hawkins, C. Títol: 'CMOS Elctronics - How it works, how it fails.'
Referència: John Wiley & Sons - IEEE Press. ISBN 0-471-47669-2. Clau: Llibre.
Autors: Soden, J.; Segura J.; Hawkins, C. Títol: 'Electronics and Failure Analysis.'
Referència: Microelectronics Failure Análisis-Desk Reference, 5th Edition, Ed. ASM
Int. ISBN:0-87170-804-3. Clau: Llibre.
Publicacions en revistes internacionals
Autors: Bota, S.A.; Dieguez, A.; Merino, J.L.; Casanova, R.; Samitier, J.; Cané, C.
Títol: 'A Monolithic Interface Circuit for Gas Sensor Arrays: COntrol and