UIB Universitat de les Illes Balears

Measurement.' Revista: Analog Integrated Circuits and Signal Processing. Volum: 40.
Pàgina inicial: 175. Pàgina final: 184. Clau: Article.
Autors: Merino, J.L.; Bota, S.A.; Casanova, R.; Diéguez, A.; Cané, C.; Samitier, J.
Títol: 'A Reusable Smart Interface for Gas Sensor Resistance Measurement.' Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. Volum: 53. Pàgina inicial:
1173. Pàgina final: 1178. Clau: Article.
Autors: Calvo, O.; Chialvo, D.R.; Eguiluz, V.M.; Mirasso, C.; Toral, R. Títol:
'Anticipated synchronization: a metaphorical linear view.' Revista: Chaos. Volum: 14.
Pàgina inicial: 13. Pàgina final: 14. Clau: Article.
Autors: Coll, D.; Picos, R.; García, E. Títol: 'State of the art od the virtual utility: the
smart distributed generation network.' Revista: International Journal of Energy
Research. Volum: 28. Pàgina inicial: 65. Pàgina final: 80. Clau: Article.
Autors: Picos, R.; Roca, M.; Iniguez, B.; García, E. Títol: 'Improved Direct
Determination of MOSFET Saturation Voltage Using Fourier Techniques.' Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices. Volum: 51. Pàgina inicial: 2073. Pàgina
final: 2077. Clau: Article.
Autors: Roselló, J.; Segura, J. Títol: 'An Analytical charge-based compact delay model
for submicron CMOS inverters.' Revista: IEEE Transactions on Circuits and Systems I-
Fundamental Theory and Applications. Volum: 51. Pàgina inicial: 1301. Pàgina final:
1311. Clau: Article.
Autors: Alorda, B.; Canals, V.; Segura, J. Títol: 'A two-Level Power-Grid Model for
Transient Current Testing Evaluation.' Revista: Journal of Electronic Testing-Theory
and Applications. Volum: 20. Pàgina inicial: 543. Pàgina final: 552. Clau: Article.
Autors: Segura, J.; Hawkins, C.; Soden, J. Títol: 'Parametric failures can be a pain in
the backside.' Revista: Electronic Device Failure Analysis. Volum: 6. Pàgina inicial:
13. Pàgina final: 18. Clau: Article.
Autors: Acosta, G.; Tosini, M. Títol: ‘NNGen: a powerful tool for theimplementation
of Artificial Neural Networks on a chip.' Revista: Electronic Journal SADIO (ISSN
1514-6774). Volum: 6. Nº1. Pàgina inicial: 66. Pàgina final: 79. Clau: Article.
Autors: Teva, J.; Abadal, G.; Davis, Z.J.; Verd, J.; Borrisé, X.; Boisen, A.; Pérez-
Murano, F.; Varonil, N. Títol: ‘On the electromechanical modelling of a resonating
nano-cantilever-based transducer’. Revista: Ultramicroscopy. Volum: 100. Pàgina
inicial: 225. Pàgina final: 232. Clau: Article.
Autors: Forsén, E.; Nilsson, S.G.; Carlberg, P.; Abadal, G.; Pérez-Murano, F.; Esteve,
J.; Montserrat, J.; Figueras, E.; Campabadal, F.; Verd, J.; Montelius, L.; Barniol, N.;
Boisen, A. Títol: ‘Fabrication of cantilever based mass sensors integrated with CMOS
using direct wrtite laser lithography on resist’. Revista: Nanotechnology. Volum: 15.
Pàgina inicial: S628. Pàgina final: S633. Clau: Article.
Contribucions a Congressos
Autors: Alorda, B.; Canals V.; Segura J. Títol: A ‘Non-Intrusive Built-In Sensor for
Transient Current Testing of Digital VLSI Circuits’. Congrés: Design of Circuits and
Integratd Systems. Tipus de participació: Presentació comunicació.
Autors: Alorda, B.; Canals, V.; De Paúl, I.; Segura J. Títol: ‘A Bist-Based Charge
Analysis for Embedded Memories’. Congrés: 10th IEEE International On-Line Testing
Symposium. Tipus de participació: Presentació comunicació.
Autors: Bota, S.A.; Rosales, M.; Roselló, J.L.; Keshavarzi, A.; Segura, J. Títol:
‘Within Die Thermal Gradient Impact On Clock-Skew: A New Type Of Delay-Fault