UIB Universitat de les Illes Balears

Títol: ‘Nanocantilever based mass sensors integrated with CMOS’. Congrés:
Eurosensors 2004. Publicació: Proceedings of Eurosensors 2004, pp. 702-703. Lloc de
celebració: Roma. Tipus de participació: Presentació comunicació.
Autors: Picos, R.; Roca, M.; Iñiguez, B.; Bellodi, M.; Flandre, D.; García, E. Títol:
‘Direct MOSFET Parameters Extraction Using Fourier-Space Techniques’. Congrés: V
IEEE Interantional Caracas Conference on Circuits, Devices and Systems (ICCDCS'04).
Tipus de participació: Presentació comunicació. CD Proceedings ISBN 0-7803-8777-
5.
Autors: Picos, R.; Roca, M.; Iñiguez, B.; García, E. Títol: ‘Extraction of MOSFET
parameters using fourier space techniques’. Congrés: XIX Conference on Design of
Circuits and Integrated Systems DCIS'04. Tipus de participació: Presentació
comunicació. Abstract book pp 175 CD proceedings ISBN 2-9522971-0-X.
Autors: Picos, R.; Bota, S.A.; Isern, E.; Moll, F.; Roca, M. Títol: ‘An experimental
technique to measure and evaluate the crosstalk energy consumption contribution’.
Congrés: 4th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated
Circuits (EMC Compo 04). Tipus de participació: Presentació comunicació.
Proceedings pp: 52-57.
Autors: Picos, R.; Roca, M.; Isern, E.; Bota, S.A.; García, E. Títol: ‘On-Line
monitoring capabilities of oscillation test techniques: results demostration in an OTA’.
Congrés: 10th International On-Line Testing Symposium (IOLTS 04). Tipus de
participació: Pòster. Proceedings pp: 179.
Autors: Rosselló, J.L., Segura, J. Títol: ‘A Compact Propagation Delay Model for
Deep-Submicron CMOS technologies including Crosstalk effects’. Congrés: Design
Automation and Test in Europe. Tipus de participació: Presentació comunicació.
Autors: Rosselló, J.L., Segura, J. Títol: ‘Modeling the Influence of Clock Skew on
Crosstalk Induced Delay in Submicron CMOS technologies’. Congrés: XIX Design of
Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS’04). Tipus de participació:
Presentació comunicació.
Autors: Segura, J. Títol: ‘Sesion 9C: Process Variation-How Server is the Problem of
Design & Test’. Congrés: IEEE VLSI Test Symposium. Tipus de participació: Panel
d’Experts.
Autors: Segura, J.; Hawkins, C. Títol: ‘Failure mechanisms in nanometer CMOS Ics’.
Congrés: International Test Conference 2004. Tipus de participació: Tutorial.
Proceedings. pp:1276 – 1283.
Autors: Segura, J.; Rosselló, J.L.; Bota, S.A.; Rosales, M., de Benito, C.l. Títol: ‘Low
Temperature CMOS Design’. Congrés: 9th International Academic Forum. Tipus de
participació: Pòster.
Autors: Tosini, M.; Fernández, J.; Acosta, G.; Acosta, H. Títol: ‘Comportamiento
reactivo-evolutivo en navegación de robots móviles y su síntesis en VHDL para FPGA’.
Congrés: I Simposio Latinoamericano en aplicaciones de lógica programable y
procesadores digitales de señales en procesamiento de video, visión computacional y
robótica, SLALP I. Tipus de participació: Presentació comunicació. CD proceedings.
Autors: Turón, R.; Picos, R.; Roca, M.; Isern, E.; García, E. Títol: ‘Labdileit:
Electronic Instrumentation Laboratory through Internet’. Congrés: IEEE International
Caracas Conference on Devices, Circuits and Systems ICCDCS 2004. Tipus de
participació: Presentació comunicació. Sessió 21B CD Proceedings ISBN 0-7803-
8777-5.
Autors: Turón, R.; Picos, R.; Roca, M. Títol: ‘Experimentos de electrónica a través de
internet’. Congrés: Congreso Universitario Innovación Educativa en Enseñanzas
Técnicas CUIEET. Tipus de participació: Presentació comunicació.