Etude de différentes méthodes de biofonctionnalisation pour la ...

Annexes
NiVJ&XE 2
Techniques de caractérisation pour les films minces
a. LA MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE (A FM)
Généralités
La Microscopie à Force Atomique (AFM) inventée en 1986 par Binning et aI.[1] s'est rapidement
imposée comme un outil essentiel pour observer l'architecture des couches organiques ultraminces, à
l'échelle du micromètre comme à l'échelle moléculaire, Cette technique permet d'imager la
topographie d'une surface en trois dimensions ¿ grande résolution.
La microscopie à force atomique peut être utilisée aussi pour étudier l'organisation des films de
Langmuir-Blodgett[2], elle permet d'imager
la topographie et de caractériser les défaut dans la
structure des monocouches et multicouches de LB. A l'échelle moléculaire, la géométrie de la
monocouche peuvent être déterminés. Les mesures restent toutefois délicates sur ces systèmes de
"matière molle", il faut trouver dans chaque cas un compromis entre un bon suivi du relief et la
nécessité de préserver l'intégrité de l'échantillon. Ici, on utilise cette technique pour observer les films
Langmuir-Blodgett mixtes de Butyrylcholinestérase/stéarylamìne déposés sur le substrat SIISiO2
préalablement silanisé par OTS.
Le principe de fonctionnement
Dans le microscope à force atomique, une micropointe fixée au bout d'un petit levier flexible est
amenée près de la surface de l'échantillon à analyser. En fonction des forces d'interaction qui vont
s'établir entre la pointe et cette surface, (forces d'interaction de Van der Waals, stériques,
magnétiques, électrostatiques ou de friction ) le levier de raideur k va se courber avec une déflexion Z
proportionnelle à l'intensité des forces, tel que F= k.Z.
En général, il existe deux modes fondamentaux pour réaliser l'observation par AFM:
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