18. Yoğun Madde Fiziği – Ankara Toplantısı, Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 25 Kasım 2011Dinamik metamanyetik durulmanın kritik ve üçlükritik noktalar yakınındakifrekans bağlılığıGül Gülpınar, Mehmet Ağartıoğlu, Yenal Karaaslan, ve Erol VatanseverFizik Bölümü, Dokuz Eylül Üniversitesi, 35180 İzmirS08Yüksek alan ve düĢük sıcaklık değerleri için birinci dereceden, düĢük alan ve yüksek sıcaklıkdeğerleri için ise ikinci dereceden geçiĢler sergileyen spin-½ metamanyetik Ising modeli üçlükritik nokta ile karakterize bir faz diyagramına sahiptir. Bu çalıĢmada spin-½ Isingmetamıknatısına ait karmaĢık veya dinamik alınganlıklar ( velineer yanıt kuramı kullanılarak elde edilmiĢtir.Anti-ferromanyetik fazda sekmeli alınganlık, frekansın logaritması cinsinden sunulduğundadispersiyon katsayısı iki ardıĢıl plato bölgesine sahipken absorbsiyon katsayısı iki maksimumsergilemektedir. Paramanyetik fazda ise dispersiyon katsayısı tek bir plato ile karakterizedir.Benzer Ģekilde düzensiz fazda sistemdeki ısıl kaybı ifade eden absorbsiyon katsayısı tek birminimuma sahiptir. Bu durum Cole–Cole eğrilerindeki düzenli fazdaki iki yarı çemberin veparamanyetik fazdaki tek yarı çemberin varlığı ile uyum içindedir.Teşekkür: Bu çalıĢma TBAG 109T721 numaralı Proje bünyesinde Türkiye Bilimsel ve Teknolojik AraĢtırmaKurumu (TÜBĠTAK) tarafından desteklenmiĢtir.22
18. Yoğun Madde Fiziği – Ankara Toplantısı, Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 25 Kasım 2011Yüksek hassasiyetli, düĢük sıcaklık atomik kuvvet mikroskobu tasarımıÖzgür Karcı 1,2 , Münir Dede 1 , ve Ahmet Oral 31 NanoManyetik Bilimsel Cihazlar Ltd., Hacettepe Teknokent, 3.ArGe, 31, Beytepe, Ankara2 Hacettepe Üniversitesi, Nanoteknoloji ve Nanotıp Bölümü, Beytepe, 06800 Ankara3 Sabancı Üniversitesi, Doğa Bilimleri ve Mühendislik Fak., Orhanlı - Tuzla, 34956 İstanbulS09Fiber interferometrik ölçüm sistemleri, düĢük sıcaklık atomik kuvvet mikroskop (DS-AKM)sistemlerinde, kuvvet algılayıcısı olarak kullanılan yayların sapmalarını ölçmede yaygınolarak kullanılır. Tipik bir Michelson interferometresi Ģeklinde çalıĢan bu ölçüm sistemlerindeelde edilen ölçüm hassasiyeti ~100fm/√Hz mertebesindedir. Bir interferometre ölçüm sistemi,ucu elmas bir kesiciyle düzlenmiĢ bir fiber ve fibere dik olacak Ģekilde hizalanmıĢ bir yaydanoluĢur. 1320 nm dalga boyundaki bir lazer demeti, 22 %50‟lik bir fiber çiftleyiciye gelerekburada ikiye ayrılır: birinci kısım fiber kablo aracılığıyla taĢınarak, ucu düzlenmiĢ fiberegelerek %2–3‟lük kismi buradan geri yansır. Kalan kısım dıĢarıya yayılarak, yaya çarpar veyansıyarak geri döner ve fiber kabloya girerek ilerler. Bu iki demet, fiber kablo içerisindeilerleyerek bir phodedektöre ulaĢır ve burada bir giriĢim deseni oluĢturarak bir akım oluĢturur.Bu akım, i =i o [1–Vcos(4πd/λ)] Ģeklinde ifade edilir. Denklemdeki V parametresi „görünürlük‟,d ise fiber ile yay arasındaki mesafeyi ifade etmektedir. Bu iki parametre, bir fiberinterferometrenin hassasiyetini belirleyen iki ana unsurdur.Bu çalıĢmada, DS-AKM‟de kuvvet etkileĢimlerinden doğan yay sapmalarını ölçmek içinMichelson türü bir interferometre geliĢtirdik. RF modülasyonu uyguladığımız laser demetiDS-AKM sisteminde ~25 fm/√Hz mertebesinde bir hassasiyet elde ettik. Bu hassasiyetmertebesinde elde ettiğimiz Manyetik Kuvvet Mikroskobu (MKM) görüntülerinde, 10 nmmertebesinde bir çözünürlük elde ettik. Örnek olarak yüksek yoğunluklu bilgisayar harddisklerini kullandık. Elde ettiğimiz MKM çözünürlüğünü artırmak için, DS-AKM‟ninhassasiyetini artırmak ve gürültü seviyesini düĢürmek gerekmektedir. Bu amaçla iki önemlieylem önerisini ortaya koyduk: (1) düzlenmiĢ fiberin %2–3 seviyesinde olan yansımasınıartırmak, (2) fiber ile yay arasındaki mesafeyi azaltmak. Bu amaçla, düzlenmiĢ fiberidielektrik malzemelerle çok katmanlı bir Ģekilde kaplayarak yansımayı ~%50 seviyesineçıkardık. Fiber ile yay arasındaki mesafeyi azaltmak için, tarayıcı piezo tüpü kullancakĢekilde bir kaydırak mekanizması geliĢtirdik. Bu Ģekilde fiber, z-doğrultusunda yaya göre ilerive geri yönde hareket kabiliyeti kazandı. Mevcut tasarımdaki 30–40 µm olan yay–fibermesafesi bu mekanizma ile ayarlanabilir hale getirildi ve mesafe ~2–3 µm‟a düĢürüldü.Çok katmanlı dielektrik kaplama fiber–yay arasında, çoklu yansımalar oluĢmasını sağlayarakbir Fabry–Perot interferometresi olarak çalıĢmaya baĢladı. Bu Ģekilde yaptığımız gürültüölçümlerinde oda sıcaklığında ~8 fm/√Hz mertebesinde hassasiyet ölçmüĢ bulunmaktayız.Shot noise adını verdiğimiz gürültü tabanımız ise ~2 fm/√Hz olarak hesaplandı. Yeni sistemile devam eden çalıĢmalarımızda, hassasiyeti daha da artırmayı ve 5–6 nm seviyesinde MKMçözünürlüğü elde etmeyi amaçlamaktayız.23