YMF18 özet kitapçığı - Department of Physics

18. Yoğun Madde Fiziği – Ankara Toplantısı, Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 25 Kasım 2011Püskürtme yöntemi ile hazırlanan ZnO ince filmlerin yapısal ve optikselözellikleriÖ. Filazi a , G. Altındemir b , C. Habiboğlu b , F. Yavuz c , F. Kırmızıgül b , C. Ulutaş b ,E. Güneri d , F. Göde c , ve C. Gümüş ba Adıyaman Üniversitesi, Fen-Edebiyat Fakültesi Fizik Bölümü, 02040 Adıyamanb Çukurova Üniversitesi Fen-Edebiyat Fakültesi Fizik Bölümü, 01330 Adanac Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen-Edebiyat Fakültesi Fizik Bölümü, 15030 Burdurd Erciyes Üniversitesi Eğitim Fakültesi İlköğretim Bölümü, 38039 KayseriP31Bu çalıĢmada, püskürtme yöntemi kullanılarak 380 o C de cam alttabanlar üzerine hayligeçirgen ve polikristal olan ZnO ince filmleri elde edildi. X-ıĢınları kırınım (XRD) analizisonucundafilmlerin hekzagonal fazda büyüdükleri görüldü ve örgü parametreleri hesaplandı.Filmlerin yüzey morfolojisi için taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanıldı. Odasıcaklığındaki optik ölçümlerden enerji bant aralıkları 3.27–3.32 eV olarak bulundu. Ġncefilmlerin kırılma indisi (n) ve sönüm katsayısı (k) değerleri zarf yöntemi kullanılarak 400–1100 nm arasında hesaplandı.63