YMF18 özet kitapçığı - Department of Physics

More documents

Recommendations

Info

18. Yoğun Madde Fiziği – Ankara Toplantısı, Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 25 Kasım 2011P42Ir katkılı ZnO filmlerinin üretilmesi ve bazı fiziksel özelliklerinin incelenmesiMüge Söyleyici, Ferhunde Atay, ve İdris AkyüzEskişehir Osmangazi Üniversitesi, Fen Edebiyat Fakültesi, Fizik BölümüOptoelektronik aygıtlarda ve güneĢ pillerinde kullanılan saydam iletken oksit malzemelerinoptiksel, yüzeysel ve elektriksel özellikleri aygıt performansını önemli derecedeetkilemektedir. Bu çalıĢmada, % 10 Ir katkılı ZnO filmleri ultrasonik kimyasal püskürtmetekniği ile 300±5 C taban sıcaklığında üretilmiĢ ve fotovoltaik güneĢ pillerinde kullanımpotansiyelini iyileĢtirmek için 450 C‟ de 3 saat tavlama iĢlemi yapılmıĢtır. Üretilen filmlerin,optiksel, yüzeysel ve elektriksel özellikleri incelenmiĢ ve tavlama iĢleminin fiziksel özelliklerüzerinde önemli bir etki yarattığı sonucuna varılmıĢtır.74
18. Yoğun Madde Fiziği – Ankara Toplantısı, Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 25 Kasım 2011ZnO filmlerinin üretimi ve karakterizasyonuOlcay Gençyilmaz a,b , Ferhunde Atay a , ve İdris Akyüz aa Eskişehir Osmangazi Üniversitesi, Fizik Bölümü, Eskişehir, Türkiyeb Çankırı Karatekin Üniversitesi, Fizik Bölümü, Çankırı, TürkiyeP43II–VI yarıiletken bileĢiklerinden olan ZnO filmleri düĢük özdirenç ve yüksek geçirgenliklerigibi uygun özelliklerinden dolayı pek çok teknolojik uygulamada tercih edilmektedir. BuçalıĢmada ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği kullanılarak 300±5 °C‟de cam tabanlarüzerine ZnO filmleri çöktürülmüĢtür. Üretilen filmlerin özelliklerini iyileĢtirmek için 450,500, ve 550 °C sıcaklıklarında tavlama iĢlemi yapılmıĢ ve filmlerin elektrik, optik ve yüzeyözellikleri üzerine tavlama sıcaklığının etkisi araĢtırılmıĢtır. Üretilen filmlerin geçirgenlik vesoğurma spektrumları UV spektr<strong>of</strong>otometre cihazı, kalınlık değerleri ve optik sabitleri (n ve k)ise spektroskopik elipsometre cihazı kullanılarak belirlenmiĢtir. Tüm filmlerin üç boyuttayüzey görüntülerini incelemek ve yüzey pürüzlülüklerini belirlemek amacı ile atomik kuvvetmikroskobu (AFM) görüntüleri alınmıĢtır. Belirtilen analizler değerlendirilerek, ZnOfilmlerinin fotovoltaik ve diğer uygulamalarda kullanılabilirlikleri araĢtırılmıĢtır.75
Page 1 and 2:
18. Yoğun Madde Fiziği - Ankara T
Page 3 and 4:
Page 5:
Page 8 and 9:
Page 10 and 11:
Page 12 and 13:
Page 14 and 15:
Page 16 and 17:
Page 18 and 19:
Page 20 and 21:
Page 22 and 23:
Page 24 and 25: 18. Yoğun Madde Fiziği - Ankara T
Page 124 and 125:
Page 126 and 127:
Page 128 and 129:
Page 130 and 131:
Page 132 and 133:
Page 134 and 135:
Page 136 and 137:
Page 138 and 139:
Page 140 and 141:
Page 142 and 143:
Page 144 and 145:
Page 146 and 147:
Page 148 and 149:
Page 150 and 151:
Page 152 and 153:
Page 154:
show all

YMF18 özet kitapçığı - Department of Physics

Create successful ePaper yourself

Delete template?

Save as template?