reverse-engineering von logik-gattern in integrierten ... - Degate
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6.3. AUFBAU VON LOGIK-GATTERN<br />
VDD<br />
A B<br />
VSS<br />
Abbildung 6.8: CMOS-NAND (Mifare Classic)<br />
E<strong>in</strong>gang A E<strong>in</strong>gang B E<strong>in</strong>gang C Ausgang NAND(A, B, C)<br />
T T T F<br />
T T F T<br />
T F T T<br />
T F F T<br />
F T T T<br />
F T F T<br />
F F T T<br />
F F F T<br />
Tabelle 6.1: Wahrheitstabelle für e<strong>in</strong>en 3-NAND<br />
gang den Wert falsch annimmt. I.d.R. stellt man die Kanonische Alternative Normal-<br />
form auf. Diese ist etwas sperrig und lautet Φ(A,B,C) = (A ∨ B ∨C) ∧ (A ∨ B ∨C) ∧<br />
(A∨B∨C)∧(A∨B∨C)∧(A∨B∨C)∧(A∨B∨C)∧(A∨B∨C). Diesen Ausdruck ver-<br />
sucht man dann soweit zu vere<strong>in</strong>fachen, so dass möglichst wenig logische Operatoren<br />
auftreten.<br />
Bei der Rekonstruktion e<strong>in</strong>er Gatterfunktion mittels e<strong>in</strong>er Wahrheitstabelle verliert die-<br />
se an Anschaulichkeit. Insbesondere für den Fall, dass sich bei der Rekonstruktion<br />
Fehler e<strong>in</strong>schleichen, s<strong>in</strong>d diese schwierig festzustellen.<br />
Abbildung 6.9 zeigt e<strong>in</strong>en komplizierteren CMOS-Schaltkreis. Die Transistorschicht<br />
ist <strong>in</strong> der Abbildung oben dargestellt, darunter die Metallverb<strong>in</strong>dungen, die die Tran-<br />
sistoren zu e<strong>in</strong>em Gatter verb<strong>in</strong>den. Die untere Darstellung zeigt beide Layer zu ei-<br />
nem Bild vere<strong>in</strong>t. Im Transistor-Layer s<strong>in</strong>d 34 Transistoren zu erkennen: 17 p-Kanal-<br />
Transistoren oben und 17 n-Kanal-FETs unten. Der dargestellte Schaltkreis soll bei-<br />
spielhaft für e<strong>in</strong>e Analyse herhalten.<br />
Mart<strong>in</strong> Schobert 26<br />
VDD<br />
VSS<br />
Out