reverse-engineering von logik-gattern in integrierten ... - Degate
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6.5. GEZIELTE SUCHE<br />
Instanzen, sieht man, welche Teile des Verdrahtungsgeflechts noch zum Gatter gehö-<br />
ren. Idealerweise sucht man zuerst nach größeren Gattern.<br />
Abbildung 6.15: Manuelles Ermitteln der Gattergrenzen anhand <strong>von</strong> Verdrahtungsmasken (Chip: Mifare<br />
Classic)<br />
Mittels normalisierter Kreuzkorrelation, e<strong>in</strong>em Verfahren aus der Signalverarbeitung,<br />
ist es möglich, Bildmaterial an anderen Stellen wieder zu f<strong>in</strong>den, an denen e<strong>in</strong> Muster<br />
ebenfalls auftritt. Die Schritte wendet man iterativ an bis man alle Gattertypen ermittelt<br />
hat.<br />
6.5 Gezielte Suche<br />
Das komplette Reverse-Eng<strong>in</strong>eer<strong>in</strong>g e<strong>in</strong>es Chips ist zu aufwendig und nicht notwen-<br />
dig. Dies ist mit dem Reverse-Eng<strong>in</strong>eer<strong>in</strong>g <strong>von</strong> Software mittels Disassemblern ver-<br />
gleichbar. In der Regel s<strong>in</strong>d vorab konkrete Fragestellungen gegeben, z.B. wie e<strong>in</strong> Ver-<br />
schlüsselungsverfahren implementiert ist. Deshalb muss ke<strong>in</strong> Chip komplett analysiert<br />
werden.<br />
Beispielsweise werden Stromchiffrierer mittels Schieberegister (Flipflops) konstruiert.<br />
Da funktional zusammenhängende Bereiche auf dem Chip benachbart platziert, muss<br />
man lediglich nach Bereichen suchen, <strong>in</strong> denen viele Flipflops zu sehen s<strong>in</strong>d. Flip-<br />
flops s<strong>in</strong>d leicht zu erkennen, da sie <strong>in</strong>nerhalb typischer Standardzellenbibliotheken<br />
die größten Elemente bilden. So beschreiben die markierten Bereich <strong>in</strong> Abbildung 6.14<br />
Mart<strong>in</strong> Schobert 33