2-2016
Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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Messtechnik<br />
HF-Testadapter mit SMA-Anschluss<br />
Um BGAs, LGAs und QFNs unter Hochfrequenzbedingungen<br />
zu testen, stellte<br />
Ironwood Electronics (Vertrieb: EMC electro<br />
mechanical components GmbH) einen<br />
Testadapter mit SMA Anschlüssen vor. Der<br />
Prüfling wird durch Federkontakte, die in<br />
Bezug auf parasitäre Induktivitäten für diese<br />
Anwendung optimiert sind, kontaktiert. Auf<br />
einer Leiterplatte werden alle Signale zu<br />
den äußeren Anschlüssen geführt, sodass<br />
die Signale für den Test zugänglich sind.<br />
Um den Highspeed-Anforderungen gerecht<br />
zu werden, sind alle Leitungslängen minimiert<br />
und die Signale als differentielle Paare<br />
herausgführt. Das Leiterplattendesign bietet<br />
durch den Einsatz von blind und buried<br />
Vias niedrigste Induktivität und Kapazität<br />
und einen kontrollierten Wellenwiderstand,<br />
was wiederum für die Signalintegrität<br />
äußerst wichtig ist. Transmitter und Receiver<br />
des Testers werden an vier SMA-Buchsen<br />
angeschlossen.<br />
Die HF-Testadapter stehen für BGAs, LGAS<br />
und QFNs im Raster 0,35 mm und größer<br />
zur Verfügung. Der Temperaturbereich ist<br />
von -35 bis +125 °C spezifiziert.<br />
■ EMC electro mechanical components GmbH, info@emc.de, www.emc.de<br />
Buch-Shop<br />
Rauschen in<br />
Elektronik und<br />
Funkpraxis<br />
verstehen, vermeiden, berechnen<br />
und messen<br />
Ing. Frank Sichla,<br />
Großformat 21 x 28 cm, 124 S.,<br />
viele Abbildungen und Diagramme,<br />
ISBN 978-3-88976-166-8,<br />
beam-Verlag 2015 18,90 €<br />
Rauschen ist ein komplexes, vielschichtiges<br />
Gebiet. Rausch-Berechnungen<br />
und -Messungen sind in der Nachrichtentechnik<br />
unvermeidlich. Dieses<br />
Buch vermittelt Schritt für Schritt die<br />
Grundlagen des Rauschens mit Schwerpunkt<br />
„Rauschpraxis im Hf-Bereich“.<br />
Es eignet sich für HF-Techniker und<br />
Studenten, Berufsschüler und Funkamateure<br />
gleichermaßen und bietet darüber<br />
hinaus, durch seine starke Ausrichtung<br />
auf die Praxis, jedem Anwender und<br />
Entwickler von Hochfrequenzschaltungen<br />
wertvolle Unterstützung.<br />
Aus dem Inhalt:<br />
• Ursache und Charakter des<br />
thermischen Rauschens, thermische<br />
Rauschspannung<br />
• Verfügbare Rauschleistung und<br />
Rauschbandbreite<br />
• Antennenrauschen und<br />
Konsequenzen für Empfänger<br />
• Elektronisches Rauschen: Schrot-,<br />
Funkel- und Influenzrauschen<br />
• Eigenrauschen von Halbleitern<br />
• Rauschmaß, Rauschabstand und<br />
Empfindlichkeit<br />
• Rauschgrößen und deren<br />
Umrechnung<br />
• Die drei Rauschtemperaturen<br />
• Rauschen bei Parallel- und<br />
Kettenschaltung<br />
• Dämpfungen – Vorsicht, Falle!<br />
• Rauschen und Verstärkung<br />
• Effektiver Rauschfaktor und<br />
effektives Rauschmaß<br />
• Rauschen von MMICs, Operationsverstärkern,<br />
Puffern und<br />
Empfängern<br />
• Rauscheinfluss bei digitaler<br />
Modulation<br />
• Das Rauschen von Oszillatoren und<br />
Sendern u.v.m.<br />
Bestellungen an: beam-Verlag, Postfach 1148, 35001 Marburg, info@beam-verlag.de
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