4-2020

Messtechnik
Vollständige Design- und Test-Lösung für DDR5-Speicher
Keysight Technologies stellte
die weltweit erste Design- und
Test-Workflow-Lösung vor, die
die Produktentwicklungszeit für
DDR5-DRAM-Systeme (Double-Data-Rate
Dynamic Random-Access
Memory) reduziert.
Mit zunehmendem Durchsatz
im Rechenzentrum steigen die
Leistungserwartungen an Server
und Hochleistungsrechner
und damit auch der Bedarf nach
der nächsten Generation von
hochdichtem, ultraschnellem
Speicher bzw. DDR5-DRAM.
Der Betrieb mit der doppelten
Datenrate im Vergleich zu DDR4
führt zu schrumpfenden Spielräumen
bei der Entwicklung und
für einen Hardware-Entwickler
wird es schwierig, die Leiterplatte
(PCB) zu optimieren, um
die Auswirkungen von Jitter,
Reflexionen und Übersprechen
zu minimieren. Stark verzerrte
Signale können mit DFE (Decision
Feedback Equalization),
einem neuen Zusatz für DDR5-
DRAM, wiederhergestellt werden,
was die traditionellen
Mess- und Simulationsansätze
früherer DDR-Generationen
beeinträchtigt.
Die umfassende Design- und
Test-Workflow-Lösung von
Keysight ermöglicht es Hardware-Ingenieuren,
ihr Zeitfenster
für die Markteinführung einzuhalten
und ein leistungsstarkes,
zuverlässiges Endprodukt zu liefern.
Dazu tragen die folgenden
Hauptmerkmale bei:
• neue Verfahren für den Sendertest
messen das Signal-
Augendiagramm nach der
Entzerrung
• neue Loopback-Empfängertests
mit Bitfehlerrate
(BER) zur Überprüfung der
Geräte- und Systemzuverlässigkeit
• Logikanalyse zur Fehlersuche
bei komplexen DDR5-Traffic-
Transaktionen, um die Quelle
der Systeminstabilität zu identifizieren
Vervollständigt wird die Lösung
durch PathWave ADS Memory
Designer für DDR5, eine Simulationsumgebung,
die sich den
aktuellen Herausforderungen der
Entwickler stellt und folgende
Hauptmerkmale aufweist:
• Vorhersage der Leistung, Optimierung
eines Designs und
Durchführung virtueller Sender-Compliance-Tests,
bevor
der erste Hardware-Prototyp
realisiert wird
• verringerte Einrichtungszeit
der Simulation von Stunden
auf Minuten durch neue
Funktionen wie DDR-Komponenten,
intelligente Drähte
und eine intelligente Speichersonde
• erhöhte Simulationsgenauigkeit
für DDR5 durch Darstellung
der Empfängerentzerrung
mit den Modellen des IBIS-
AMI (Algorithmic Modeling
Interface), die speziell für die
Anforderungen von DDR verbessert
wurden.
„DDR5 ist in Sichtweite, und
um sich einen Wettbewerbsvorteil
zu sichern, entwerfen
Unternehmen ihre Produkte der
nächsten Generation so, dass sie
die Vorteile dieser Technologie
voll ausschöpfen können. Entwicklung
für DDR5 bedeutet
jedoch nicht, Schritt für Schritt
zu wiederholen, was bei früheren
Generationen üblich war. Die
Messungen, die zur Validierung
von Speichersystemen benötigt
werden, und die Simulationstechnologie,
die zur Vorhersage
der Leistung von Speichersystemen
benötigt wird, entwickeln
sich weiter“, erklärte Todd Cutler,
Vice-President und General
Manager für Design- und Testsoftware
bei Keysight.
Die Design- und Test-Workflow-
Lösung von Keysight besteht aus
dem folgenden Produktportfolio:
• Modellierung und Simulation
(W2225BP)
• Tastköpfe und Interposer
• Sendertest mit Oszilloskopen
und Compliance-Software
(Infiniium UXR, N6475A)
• Empfänger-Testvorrichtungen
• Empfängertestlösung für
Loopback-Bitfehlerratentests
(M8020A, M80885RCA)
• Logikanalyse (U4164A,
B4661A)
• Stromschienen-Tastköpfe
(N7024A)
■ Keysight Technologies, Inc.
www.keysight.com
Berührungslos Ströme messen und darstellen
Der I-Prober 520 von TTI, der
von Telemeter Electronic vertrieben
wird, ist ein Stromtastkopf
für Oszilloskope. Er ist in
der Lage, Ströme berührungslos
zu messen und anzuzeigen.
Um den Strom einer Leiterbahn
darzustellen, muss man nur die
Prüfspitze auf die Leiterbahn
aufsetzen. Ströme werden mit
einer Bandbreite von bis zu
5 MHz erfasst. Der Messbereich
erstreckt sich von 10 mA
bis hin zu 20 A.Die Prüfspitze
des Tastkopfes entspricht der
Sicherheitsklasse 300 V Cat
II (600 V Cat I) und durch
seinen BNC-Anschluss ist der
I-Prober für jedes Oszilloskop
verwendbar. Eigenschaften
des I-Probers sind galvanisch
getrenntes Messen, geringste
Beeinflussung des Stromkreises,
Messen auf Leiterbahnen
und keine Unterbrechung
des Stromkreises.
■ Telemeter Electronic
GmbH
info@telemeter.de
www.telemeter.info
hf-praxis 4/2020 51