Der Photomischdetektor zur schnellen 3D-Vermessung für ...
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1 Grundlagen<br />
Dabei korrespondiert die Phasenverzögerung ϕ mit der zu bestimmenden Entfernung<br />
d über die Beziehung<br />
d =<br />
c · ϕ<br />
. (1.2)<br />
2ω<br />
c : Lichtgeschwindigkeit � �<br />
m<br />
s<br />
Die Ermittlung der Phasenverzögerung kann über den unter der Bezeichnung “Lock-in”-<br />
Verfahren (siehe [SpSe95]) bekannten Auswertungsalgorithmus erfolgen. Dabei werden<br />
die <strong>für</strong> die Korrelation erforderlichen Demodulationssignale U(t, ψ) mit der zum Modulationssignal<br />
identischen Frequenz ω als symmetrische Gegentaktsignale gewählt.<br />
Ua(t, ψ) =U0 + U · sin(ωt + ψ) (1.3)<br />
Ub(t, ψ) =U0 − U · sin(ωt + ψ) (1.4)<br />
U : Demodulationsamplitude<br />
U0 : Gleichanteil<br />
ψ : wählbare Phasenverschiebung zwischen Modulation<br />
und Demodulation [rad]<br />
Die mathematische Beschreibung des Mischprozesses bzw. der Korrelation zweier Signale<br />
ist gegeben durch deren Multiplikation in Verbindung mit einer Integration, wo-<br />
bei als Integrationsintervall ein ganzzahliges Vielfaches der Periodendauer TP = 2π<br />
ω<br />
verwendet wird. Das Ergebnis N der Korrelation als Funktion der frei wählbaren Phasenverschiebung<br />
ψ kann auf folgende Weise berechnet werden, wobei <strong>für</strong> die Herleitung<br />
berücksichtigt wird, dass das Integral von harmonischen Funktionen in ωt über ganze<br />
Vielfache der Periodenlänge keinen Beitrag ergibt. Zur Charakterisierung der Empfindlichkeit<br />
des Halbleitermaterials wird die Sensitivität S [A/W] eingeführt.<br />
6<br />
Na(ϕ, ψ) = S<br />
e<br />
= S<br />
e<br />
= S<br />
e<br />
nTP �<br />
0<br />
nTP �<br />
0<br />
+ S<br />
e<br />
nTP �<br />
0<br />
Ua(t, ψ) · Φ(t, ϕ) dt<br />
(U0 + U · sin(ωt + ψ)) · (G0 + R · sin(ωt + ϕ)) dt<br />
(U0G0 + URsin(ωt + ψ) · sin(ωt + ϕ)) dt<br />
nTP �<br />
0<br />
(U0R sin(ωt + ψ)+UG0 sin(ωt + ϕ)) dt<br />
� �� �<br />
=0