Band_389LP

Bild 5. Verlauf des elektrischen Widerstands und des zeitlichen Gradienten des elektrischen Widerstands über der
Schwingspielzahl für die Proben mit der Schweißnahttrajektorie 1 (PPPP = 1000 W und v = 360 mm/s) auf einem 70-N-Lasthorizont
für die (a) Versagensart I sowie die (b) Versagensart II und Darstellung der Bruchbilder mit Kennzeichnung der
Rissausbreitung
Von den Proben mit der Schweißnahttrajektorie 4, die ausschließlich mit 115 N angeregt wurden, wiesen 50 %
der Proben die Versagensart I auf. Anders als bei den Proben mit der Schweißnahttrajektorie 1 konnte nicht
identifiziert werden, welche Versagensart mehr Schwingspielzahlen ertrug. Es befinden sich jeweils zwei Proben
mit der Versagensart I an dem unteren und oberen Quartil der Datenpunkte (Bild 6). Infolgedessen lief die
Rissausbreitung in der y-Richtung von der Schweißnaht bis zum Rand des Zellverbinders (Bild 7 b, Versagensart
II) ungefähr gleich schnell wie diejenige entlang der Schweißnaht (Bild 7 a, Versagensart I) ab. Ein
Einfluss der nicht mittigen Ausrichtung der Schweißnähte in x-Richtung auf dem Zellgehäuse war nicht identifizierbar.
Eine zum Ausfall der Probe führende Rissausbreitung in y-Richtung zum Rand des Zellverbinders
nah an der Einspannung (Bild 7 b, Riss 1) verringerte die ertragbaren Schwingspielzahlen. Der gegenteilige
Effekt trat auf, wenn diese Rissausbreitung weiter von der Einspannung des Zellverbinders entfernt ablief
(Bild 7 b, Riss 2).
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