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7. TESIS MASTER DIMM.pdf - RiuNet - Universidad Politécnica de ...

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! "<br />

utilizado. Y en la figura 4.9 pue<strong>de</strong>n verse diferentes capturas <strong>de</strong> pantalla <strong>de</strong>l software<br />

utilizado.<br />

Figura 4.8 Microscopio óptico Nikon Microphot FX conectado a un or<strong>de</strong>nador.<br />

a) b)<br />

Figura 4.9 análisis <strong>de</strong> porosidad con el software <strong>de</strong> análisis <strong>de</strong> imagen, a) situación <strong>de</strong>l nivel <strong>de</strong><br />

porosidad y b) cálculo <strong>de</strong>l nivel <strong>de</strong> porosidad <strong>de</strong>l material.<br />

Para obtener las imágenes <strong>de</strong> los mecanismos <strong>de</strong> erosión y zonas específicas <strong>de</strong> los<br />

recubrimientos fue necesaria la utilización <strong>de</strong> un equipo <strong>de</strong> microscopia electrónica <strong>de</strong><br />

barrido SEM (Scanning Electron Microscopy), el Microscopio electrónico <strong>de</strong> barrido, es<br />

aquel que utiliza un haz <strong>de</strong> electrones en lugar <strong>de</strong> un haz <strong>de</strong> luz para formar una imagen.<br />

Tiene una gran profundidad <strong>de</strong> campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran<br />

parte <strong>de</strong> la muestra. También produce imágenes <strong>de</strong> alta resolución, significa que las<br />

características espacialmente cercanas en la muestra pue<strong>de</strong>n ser examinadas a una alta<br />

magnificación. El microscopio electrónico que se utilizo para el análisis <strong>de</strong> nuestras

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