INTRODUCTION AUX MICRO ONDES
INTRODUCTION AUX MICRO ONDES
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GaN 3.4 3 1000 1.5x10 7 1.3<br />
SiC 3.3 2.2 560 2x10 7 3.7<br />
Les paramètres électroniques qui présentent le plus d'intérêt sont les<br />
caractéristiques de transport de charges (trous et électrons). Dans le domaine des<br />
faibles champs électriques, les porteurs libres sont en équilibre thermodynamique<br />
avec le réseau et leur vitesse moyenne est proportionnelle au champ électrique.<br />
En d'autres termes, la mobilité des porteurs est indépendante du champ<br />
électrique<br />
r r<br />
et la vitesse de dérive s'écrit simplement :<br />
V = ± μ0E<br />
Avec :<br />
qτ<br />
μ 0 = *<br />
m<br />
τ : temps de relaxation et m* : masse effective.<br />
La vitesse de dérive des porteurs présente une valeur maximale Vsat obtenue<br />
pour une valeur critique du champ électrique notée Ec. La valeur du champ<br />
électrique, pour laquelle se produit la saturation de la vitesse de dérive, est très<br />
importante puisqu'elle traduit les phénomènes d'accélération des porteurs jusqu'au<br />
régime de saturation. La vitesse de saturation pour les semi-conducteurs à grand<br />
gap est considérablement plus élevée que celle du silicium ou de l'arséniure de<br />
gallium. Ce qui permet d'obtenir de forts courants DC et RF pour les transistors<br />
MESFETs SiC.<br />
Lorsque le champ électrique devient important, les interactions des porteurs avec<br />
les vibrations du réseau entraînent une diminution de la mobilité des porteurs. Cette<br />
diminution de la mobilité se traduit par une variation non linéaire de la vitesse de<br />
dérive des porteurs :<br />
r r<br />
V = ± μ(<br />
E)<br />
E<br />
Avec :<br />
0 ( E)<br />
=<br />
E<br />
1 +<br />
V<br />
μ<br />
μ<br />
sat<br />
La mobilité des électrons (µn) et des trous (µp) sont des paramètres physiques<br />
prépondérants pour les dispositifs microondes. En particulier, ils influent sur les<br />
performances RF, la transconductance (Gm) et le gain en puissance des transistors<br />
MESFETs de puissance.<br />
Le champ électrique critique et la conductivité thermique sont les paramètres<br />
physiques d'un semi-conducteur qui fixent les performances en termes de puissance<br />
maximum d'un composant actif. De plus, le champ électrique d'avalanche fixe la<br />
limite fondamentale de fonctionnement d'un composant de puissance.<br />
Le Carbure de Silicium, de part sa grande largeur de bande interdite, présente un<br />
fort champ électrique d'avalanche de l'ordre de 2.106 V/cm. Avec un tel champ de<br />
claquage, il devient alors possible d'appliquer aux transistors MESFETs SiC de fortes