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INTRODUCTION AUX MICRO ONDES

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Le MESFET fut le premier composant à être fabriqué. Mead proposa en premier<br />

lieu de remplacer le Silicium des premiers FETs par un semi-conducteur tel que<br />

l'Arséniure de Gallium (AsGa). Cette évolution au niveau matériau a permis<br />

l'utilisation des MESFETs aux fréquences microondes. Les premiers résultats en<br />

puissance obtenus avec un MESFET datent de 1994. La structure d'un transistor à<br />

effet de champ est représentée par la Figure III-1.<br />

Figure III-1 : Vue en coupe d'un MESFET SiC<br />

En partant du bas de la Figure III-1, il apparaît tout d'abord un substrat mono<br />

cristallin en SiC qui doit être le moins conducteur possible. Il ne joue aucun rôle<br />

électrique mais constitue essentiellement un support mécanique pour le reste du<br />

composant. Sur ce substrat, une fine couche active dopée N est insérée, soit par<br />

épitaxie, soit par implantation ionique. Deux zones fortement dopées N + , l'une sous<br />

l'électrode de drain, l'autre sous l'électrode de source sont habituellement rajoutées à<br />

la structure par une nouvelle implantation ou par un procédé de diffusion. Elles<br />

permettent de réduire les résistances de contact, néfastes pour les performances du<br />

composant. Les propriétés électriques de la structure sont généralement améliorées<br />

par la présence d'une couche tampon faiblement dopée entre la couche active et le<br />

substrat. Son épaisseur est de quelques microns. Elle évite la migration d'ions au<br />

niveau de l'interface et préserve la valeur de la mobilité des porteurs dans cette<br />

région. Enfin, trois contacts par dépôt de film métallique sous vide sont réalisés. Les<br />

deux extrêmes forment les électrodes de source et de drain. Le contact est de nature<br />

ohmique. Celui de l'électrode de grille est de type Schottky.<br />

De plus, sur la Figure III-1, les principales dimensions géométriques sont<br />

représentées. La petite dimension de contact de grille Lg est appelée par convention<br />

longueur de grille du transistor. Elle détermine en grande partie la fréquence<br />

maximale d'utilisation du transistor. Pour les composants hyperfréquences elle est<br />

souvent inférieure à 1 µm. La deuxième dimension est la largeur de grille W et elle<br />

rend compte de la taille du transistor. Sa dimension typique est de l'ordre de 50 à<br />

1000 fois celle de Lg. L'épaisseur « a » de la couche active est généralement de 0.2<br />

µm à 0.4 µm.

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