INTRODUCTION AUX MICRO ONDES
INTRODUCTION AUX MICRO ONDES
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Le MESFET fut le premier composant à être fabriqué. Mead proposa en premier<br />
lieu de remplacer le Silicium des premiers FETs par un semi-conducteur tel que<br />
l'Arséniure de Gallium (AsGa). Cette évolution au niveau matériau a permis<br />
l'utilisation des MESFETs aux fréquences microondes. Les premiers résultats en<br />
puissance obtenus avec un MESFET datent de 1994. La structure d'un transistor à<br />
effet de champ est représentée par la Figure III-1.<br />
Figure III-1 : Vue en coupe d'un MESFET SiC<br />
En partant du bas de la Figure III-1, il apparaît tout d'abord un substrat mono<br />
cristallin en SiC qui doit être le moins conducteur possible. Il ne joue aucun rôle<br />
électrique mais constitue essentiellement un support mécanique pour le reste du<br />
composant. Sur ce substrat, une fine couche active dopée N est insérée, soit par<br />
épitaxie, soit par implantation ionique. Deux zones fortement dopées N + , l'une sous<br />
l'électrode de drain, l'autre sous l'électrode de source sont habituellement rajoutées à<br />
la structure par une nouvelle implantation ou par un procédé de diffusion. Elles<br />
permettent de réduire les résistances de contact, néfastes pour les performances du<br />
composant. Les propriétés électriques de la structure sont généralement améliorées<br />
par la présence d'une couche tampon faiblement dopée entre la couche active et le<br />
substrat. Son épaisseur est de quelques microns. Elle évite la migration d'ions au<br />
niveau de l'interface et préserve la valeur de la mobilité des porteurs dans cette<br />
région. Enfin, trois contacts par dépôt de film métallique sous vide sont réalisés. Les<br />
deux extrêmes forment les électrodes de source et de drain. Le contact est de nature<br />
ohmique. Celui de l'électrode de grille est de type Schottky.<br />
De plus, sur la Figure III-1, les principales dimensions géométriques sont<br />
représentées. La petite dimension de contact de grille Lg est appelée par convention<br />
longueur de grille du transistor. Elle détermine en grande partie la fréquence<br />
maximale d'utilisation du transistor. Pour les composants hyperfréquences elle est<br />
souvent inférieure à 1 µm. La deuxième dimension est la largeur de grille W et elle<br />
rend compte de la taille du transistor. Sa dimension typique est de l'ordre de 50 à<br />
1000 fois celle de Lg. L'épaisseur « a » de la couche active est généralement de 0.2<br />
µm à 0.4 µm.