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Untersuchung der Modenkopplung in magnetischen Ringen anhand ...

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Brillou<strong>in</strong>-Lichtstreumikroskopie<br />

welche <strong>in</strong> lateraler Richtung durch Elektromotoren mit e<strong>in</strong>er Genauigkeit von bis zu 10 nm be-<br />

wegt werden kann. Die Steuerung <strong>der</strong> Probenposition geschieht mit Hilfe e<strong>in</strong>es Computers. Es<br />

ist unabd<strong>in</strong>gbar, während e<strong>in</strong>er Messung, welche bis zu mehreren Stunden dauern kann, die<br />

Position <strong>der</strong> Probe zu überwachen und gegebenenfalls zu korrigieren. Dazu wird die Probe<br />

zusätzlich von e<strong>in</strong>er Weißlichtquelle beleuchtet und das Bild mit e<strong>in</strong>er CCD-Kamera aufge-<br />

nommen. E<strong>in</strong>e aktive Stabilisierungssoftware garantiert damit e<strong>in</strong>e Stabilität <strong>der</strong> Probenposi-<br />

tion über mehrere Tage. Der Beleuchtungsstrahlengang ist <strong>in</strong> Abb. 3.4 als gelb-grün gestreift<br />

e<strong>in</strong>gezeichnet.<br />

Um die Magnetisierungsdynamik <strong>in</strong> dünnen <strong>magnetischen</strong> Schichten bei unterschiedlichen<br />

äußeren Bed<strong>in</strong>gungen testen zu können, s<strong>in</strong>d am Probentisch zwei Spulen angebracht. E<strong>in</strong><br />

Strom durch die Wicklungen <strong>der</strong> Spulen bewirkt e<strong>in</strong> statisches, äußeres magnetisches Feld<br />

am Ort <strong>der</strong> Probe. Weiterh<strong>in</strong> besteht im Labor die Möglichkeit, die <strong>magnetischen</strong> Strukturen<br />

e<strong>in</strong>em dynamischen Magnetfeld auszusetzen. Hierzu kann e<strong>in</strong> Mikrowellenstrom verwendet<br />

werden, falls die Probe mit entsprechenden Antennenstrukturen ausgestattet ist.<br />

3.2.2 Tandem-Fabry-Perot-Interferometrie<br />

E<strong>in</strong>e präzise und daher weit verbreitete Methode zur Messung von Frequenzdifferenzen zweier<br />

Lichtstrahlen ist die Interferometrie. Dazu gehört unter an<strong>der</strong>em das Fabry-Perot-Interferome-<br />

ter (FPI). Es besteht im Wesentlichen aus zwei planparallelen Glasplatten, <strong>der</strong>en e<strong>in</strong>an<strong>der</strong><br />

zugewandte Flächen mit e<strong>in</strong>er hochreflektierenden Schicht ausgestattet s<strong>in</strong>d. E<strong>in</strong> monochro-<br />

matischer Lichtstrahl wird an diesen Spiegelflächen mehrmals h<strong>in</strong>- und herreflektiert, wobei<br />

h<strong>in</strong>ter dem FPI Vielstrahl<strong>in</strong>terferenz <strong>der</strong> dabei transmittierten Teilstrahlen auftritt. Das Trans-<br />

missionsvermögens e<strong>in</strong>es Fabry-Perot-Interferometers mit Plattenabstand d ist bei senkrech-<br />

tem Lichte<strong>in</strong>fall zur Plattenebene maximal für Wellenlängen λ, welche die Bed<strong>in</strong>gung<br />

λ =<br />

2 d<br />

, n = 0, 1, 2,... (3.9)<br />

n<br />

erfüllen. Somit kann die transmittierte Wellenlänge alle<strong>in</strong> durch den Plattenabstand geregelt<br />

werden.<br />

Soll nun <strong>der</strong> Frequenzunterschied zweier Lichtstahlen bestimmt werden, so wird <strong>der</strong> Platten-<br />

abstand d1 zunächst so e<strong>in</strong>gestellt, dass das FPI den ersten Strahl transmittiert. Anschließend<br />

wird ermittelt, um welche Distanz ∆d <strong>der</strong> Plattenabstand verän<strong>der</strong>t werden muss, bis das FPI<br />

für die Frequenz des zweiten Lichtstrahls <strong>in</strong> Transmission ist. Die Wellenlänge des zweiten<br />

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