UNIVERSIT .. AT BONN Physikalisches Institut - Prof. Dr. Norbert ...

und2_6811_pix.rzrund2_7395_pix.rzVerluste [%]0.8Verluste [%]0.20.70.1750.60.150.50.1250.40.10.30.0750.20.050.10.0250¡0 200 400 600¢8000¡0 200 400 600¢800BurstnummerBurstnummerAbbildung 6.18: Trefferverluste in Abhängigkeitder Dauer der Spills“ für Modul M3 keit der Dauer der Spills“ für Modul M3” ”Abbildung 6.19: Trefferverluste in Abhängig-während der Datennahme im Mai 1999 während der Datennahme im Juni 1999Einzeltreffer (eindeutig) 31,7%Einzeltreffer (doppelt angeschlossene Pixel) 21,8%Einzeltreffer (ohne Zuordnung) 3,1%Doppeltreffer (direkt benachbart) 19,7%Doppeltreffer (auf 2 doppelt angeschlossenen Pixel) 23,7%Tabelle 6.3: Relative Häufigkeit der Trefferarten im Bereich zwischen den Chips.Die Abbildungen 6.20 und 6.21 zeigen den Zwischenchipbereich vor und nach der Korrektur.Für die Betrachtungen von Einzelchips ist diese Korrektur nicht notwendig,da nur Treffer von Zeilen kleiner als 150 in die Analyse einfließen, um Randeffekte zuvermeiden. Bei allen Ergebnissen mit Moduldaten kam diese Routine zum Einsatz.In Abbildung 6.22 ist das Residuum des Strahls zu der im Pixeldetektor ermitteltenPosition zu erkennen. Im Nebenpeak sind die falsch zugeordneten Treffer, während dergleichmäßige Untergrund von Rauschtreffern im Zwischenchipbereich stammt. Nach derKorrektur verschwindet das Signal neben dem Hauptsignal (Abbildung 6.23). Durchdie Korrektur können auch im Zwischenchipbereich die getroffenen Pixel bestimmtwerden.88