INDUSTRIELLE AUTOMATION 1/2024

SENSORIK UND MESSTECHNIK
WERKSTOFFCHARAKTERISIERUNG FÜR
WASSERSTOFFANWENDUNGEN
Zur präzisen Überprüfung und Zertifizierung von
Komponenten und Materialien für Wasserstoffpro dukte
und -anwendungen setzt der Dienstleister Scioflex
Hydrogen auf fortschrittliche Prüfmaschinen von
ZwickRoell. Wasserstoff gewinnt als sauberer Energieträger
zunehmend an Bedeutung. Um zuverlässige
Aussagen über die Eignung von Metallen und Kunststoffen
zu machen, sind Tests unter realen Bedingungen
unerlässlich. Dabei stehen Herausforderungen wie
hohe Durchdringungsfähigkeit und Wasserstoffversprödung
im Fokus. Für kraft- und dehnungsgeregelte
Zeitstandermüdungsversuche nutzt Scioflex Hydrogen
die Zeitstandprüfmaschine Kappa 100 SS-CF sowie die
servohydraulische ZwickRoell HA100 mit 400 bar
Autoklav. „Mit den ZwickRoell Prüfsystemen können wir
die Materialeigenschaften unter Anwendungsbedingungen
perfekt charakterisieren. Dies ermöglicht ein
komplett neues Feld der Materialcharakterisierung
unter Einfluss von
Wasserstoff zu
erschließen“, so
Geschäftsführer Bernd
Schrittesser. Beide
Maschinen sind über
eine weite Bandbreite
an Frequenz und Last
einsetzbar. Es besteht
die Möglichkeit, im
Bereich niedriger
Dehnraten zu arbeiten und bis zu einer Frequenz von
20 Hz bruchmechanische oder Ermüdungsexperimente
zu implementieren. Außerdem lassen sich Lastbereiche
bis 100 kN abdecken.
www.zwickroell.com
HOCHDRUCKAUFNEHMER MIT HOHER
LANGZEITSTABILITÄT
Keller Druckmesstechnik stellt den
OEM-Hochdruckaufnehmer 10LHP
vor. Dank gut aufeinander abgestimmter,
hochwertiger Materialien
erreicht der kompakte Druckaufnehmer
eine sehr hohe Genauigkeit
und Langzeitstabilität. Der 10LHP
verfügt über ein robustes Gehäuse
aus Edelstahl, Hastelloy oder Titan sowie eine frontbündige,
spaltfrei verschweißte Membran. Der
Anwender profitiert von einer sehr hohen Überlastfestigkeit
und einem optimierten Temperaturverhalten.
Die Keller-Serien 10L als auch 10LHP sind in identischen
Abmessungen erhältlich und decken gemeinsam
einen Druckbereich von 0,1 bis 1.000 bar ab. Bei Keller
wird jeder Druckaufnehmer über den gesamten
Druck- und Temperaturbereich ausgemessen. Die
detaillierten Kalibrierdaten sind über die Datenplattform
myCalibration von Keller abrufbar.
www.keller-druck.com
MINIATURISIERT UND MIT IO-LINK-
KOMPETENZ NOCH SMARTER
Die nano-Sensoren von
Microsonic im M12-Gehäuse
sind ab sofort mit einem
Push-Pull-Schaltausgang
ausgestattet. Sie verfügen
über eine IO-Link-Schnittstelle
in der Version 1.1 und
Smart Sensor Profile. Neben
den gemessenen Abstandswerten
übermittelt die
IO-Link-Schnittstelle
zugleich Identifikations-,
Status- und Diagnosewerte.
Mit 250 und 350 mm
stehen zwei Tastweiten zur Verfügung. nano-Ultraschallsensoren
erfassen berührungslos jegliche Art von Objekten,
sei es fest, flüssig, pulverförmig oder transparent. Dabei geht
auch hier der Trend zur Miniaturisierung. Anwender erwarten
maximale Leistung auf kleinstem Bauraum. Mit einer Gesamtlänge
von nur 55 mm inklusive Stecker ist dieser M12-Ultraschallsensor
Angaben von Microsonic zufolge der kürzeste auf
dem Markt. Die kompakte Bauform des nano-Ultraschallsensors
ist vorteilhaft bei beengten Einbauverhältnissen.
Gleichzeitig präsentiert sich die Gehäusebauform als kompatibel
zu vielen induktiven und kapazitiven Sensoren. Das
erleichtert bei kritischen Anwendungen den Umstieg auf
Ultraschallsensoren.
www.microsonic.de
INTERFEROMETER ZUR PRÄZISEN
WAFER-DICKENMESSUNG
Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH von Mico-Epsilon
eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung
von monokristallinen Silizium-Wafern. Dank der
breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann es für
undotierte, dotierte
und hochdotierte
Silizium-Wafer
eingesetzt werden.
Der Dickenmessbereich
erstreckt sich
von 0,05 bis zu
1,05 mm. Die messbare
Dicke von
Luftspalten beträgt
bis zu 4 mm. Bei der Produktion von Halbleiter-Wafern kommt
es auf höchste Präzision an. Ein wichtiger Prozessschritt ist
das Läppen der Siliziumrohlinge, die dabei auf eine einheitliche
Dicke gebracht werden. Genau dafür hat Micro-Epsilon die
Weißlichtinterferometer der Reihe Interferometer IMS5420
entwickelt. Sie bestehen aus einem kompakten Sensor und
einem Controller, der in einem robusten industrietauglichen
Gehäuse untergebracht ist. Eine im Controller integrierte,
aktive Temperaturregelung sorgt für eine hohe Stabilität der
Messung. Erhältlich ist das Interferometer entweder als
Dicken- oder als Multipeak-Dickenmesssystem.
www.micro-epsilon.com
www.industrielle-automation.net INDUSTRIELLE AUTOMATION 2024/01 15