Arquivo do Trabalho - IAG - USP

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3.2.3 Análise Elementar por Fluorescência de Raio-X
Análise com refletância de raio-X é utilizada para avaliação quali-quantitativa da
composição química de vários tipos de amostras, e.g. agropecuária, agroindustrial, ambiental.
Esta técnica é caracterizada por ser não destrutiva, além de analisar vários elementos
simultaneamente (Nascimento Filho, 1999).
O aparelho se baseia na fluorescência de raios X por dispersão de energia (EDX-RF-
Energy Dispersive X-ray Fluorescence). A análise de fluorescência de raios-X é baseada na
medida das intensidades dos raios-X característicos emitidos pelos elementos que constituem
a amostra. O equipamento que está no Laboratório de Análises de Processos Atmosféricos
(LAPAt) é um Shimatzu Modelo Espectrômetro Rigaku, RIX 300, ilustrado na Figura 3.4. Os
raios X emitidos pelo tubo de Ródio excitam os elementos constituintes, que, por sua vez,
emitem linhas espectrais com energias características do elemento e cujas intensidades estão
relacionadas com a concentração do elemento na amostra. Quando um elemento da amostra é
excitado, este ejeta elétrons do interior dos níveis dos átomos, e conseqüentemente, elétrons
dos níveis mais afastados realizam um salto quântico para preencher a vacância, Nascimento
Filho, 1999. Cada transição eletrônica constitui uma perda de energia para o elétron, e esta
energia é emitida na forma de um fóton de raio X, de energia característica e bem definida
para cada elemento.
(a)
Figura 3.4: (a) Aparelho utilizado para quantificação elementar das amostras, utiliza indução por
Raio-X, (b) disco onde as amostras são colocadas para análise elementar.
(b)