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Bei der auf dem Theta-Prinzip basierenden
SPIM-Methode wird die Probe
von der Seite beleuchtet und nicht
wie bislang in der Beobachtungsrichtung
von oben durch das Objektiv.
Mit der klassischen Anordnung erzielen
Forscher zwar exzellente Auflösungen
in der Ebene des Objektträgers,
aber die Auflösung senkrecht
zum Objektträger ist schlechter. Mit
dem SPIM Verfahren wird nun in der
Probe mit dem Laser ein extrem dünnes
„Lichtblatt” erzeugt, so dass man
ein optisches Schnittbild erhält. Eine
besondere Eigenschaft des SPIM ist,
dass immer nur eine Ebene beleuchtet
und beobachtet wird. Das steht
im Gegensatz zu einem konventionellen
oder auch konfokalen Mikroskop,
in dem für jede Ebene immer
die gesamte Probe belastet wird.
Müssen z. B. 100 Ebenen aufgenommen
werden, um die Probe zu erfassen,
dann sinkt die Strahlenbelastung
der Probe in einem SPIM auf 1% der
bislang erforderlichen Leistung. Dieser
Vorteil kann genutzt werden, um
den Beobachtungszeitraum wesentlich
zu erhöhen. Die Schnittbilder können
durch Bewegen und Drehen der
Probe von verschiedenen Seiten aufgezeichnet
werden. Dabei werden
auch verdeckte Regionen sichtbar und
man kann tiefer ins Gewebe hineinsehen.
Das gesamte Verfahren geht
sehr schnell und die erzeugte Bildinformation
kann per Bildverarbeitungssoftware
zu einem hochaufgelösten
3D-Bild zusammengesetzt werden. Es
ist die perfekte Ergänzung von konfokalen
und Multiphoton 3D Abbildungssystemen.
www.embl.de/ExternalInfo/stelzer
www.zeiss.de/mikro
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Innovation 15, Carl Zeiss AG, 2005