Fakultät für Naturwissenschaften Charge Trapping and Compositional Structure of Thin Siliconoxinitride Layers, J. of Electrical Engineering: 48 (9) (1998) 5 Beyer, R.; Burghardt, H.; Thomas, E.; Reich, R.; Geßner, T.; Zahn, D.R.T.: Structural Properties and Electrical Behaviour of Thin Silicon Oxynitride Layers, Microelectrics and Reliability, 2 (1998) 243 Goetz, M.; Drews, D.; Zahn, D.R.T.; Wannemacher, R.: Near-Field Raman Spectroscopy of Semiconductor heterostructures and CVD-Diamond Layers, J. of Luminescence, Vol. 76(1998) 306 Werninghaus, T.; Zahn, D.R.T.; Yankov, R.A.; Mücklich, A.; Pezoldt, J.: Cross-Sectional Micro-Raman Spectroscopy: A Tool for Structural Investigations of Thin Polytypic SiC Layers, Proc. of ICSC III-N’97, Stockholm: Mater. Sci. Forum, Vol 264-268 (1998) 661 Friedrich, M.; Zahn, D.R.T.: Emission Spectroscopy: An Excellent Tool for the Infrared Characterization of Textile Fibers, Appl. Spectroscopy, 52 (12) (1998) 1530 Hohenecker, St.; Drews, D.; Werninghaus, T.; Zahn, D.R.T.; Braun, W.: Sulfur Modification of GaAs(100) surfaces and Ag/S/GaAs(100) Schottky Contacts, J. of Electron. Spectr. and Rel. Phen., 96 (1998) 97 Hohenecker, St.; Kampen, T.U.; Zahn, D.R.T.; Braun, W.: The Influence of Sulfur Interlayers on the Mg/GaAs(100) Interface Formation, J. Vac. Sci. Technol. B16 (1998) 2317 Haworth, L.; Lu, J.; Hill, P.; Westwood, D.I.; Macdonald, J.E.; Hartmann, N.; Schneider, A.; Zahn, D.R.T.: Formation of an Sb-N Compound During Nitridation of InSb(001) Substrates Using Atomic Nitrogen, J. Vac. Sci. Technol.B16 (1998) 2254 Stenzel, O.; Stendal, A.; Röder, M.; Wilbrandt, S.; Drews, D.; Werninghaus, T.; von Borczyskowski, C.; Zahn, D.R.T.: Localized Plasmon Excitation in Metal Nanoclusters as a Tool to Study Thickness-Dependent Optical Properties of Copper Phthalocyanine Ultrathin Films, Nanotechnology 9(1998) 6 Hohenecker, St.; Drews, D.; Lübbe, M.; Zahn, D.R.T.; Braun, W.: The Influence of a Selenium Interlayer on the In/GaAs(100) Interface Formation, Appl. Surf. Sci., 123 (1998) 585 Park, S.; Han, H.; Kaiser, R.; Werninghaus, T.; Schneider, A.; Drews, D.; Zahn, D.R.T.: The Phototransformation of C 60 Thin Films on GaAs(100) Studied by In situ Raman Spectroscopy, J. App. Phys., 84 (3) (1998) 1 Beyer, R.; Burghardt, H.; Firszt, F.; Zahn D.R.T.: A Study of Deep Centers in Zn 1-x Mg x Se Crystals Using Deep Level Transient Spectroscopy, J. Appl. Phys., 84 (9) (1998), 5345 Rossow, U.; Lindner, K.; Lübbe, M.; Aspnes, D.E.; Zahn, D.R.T.: RDS Spectra of Clean (3x2), (2x1) and c(2x2) 3C-SiC(001) Surfaces: New Evidence for Surface State Contributions to Optical Anisotropy Spectra, J. Vac. Sci. Technol.B16 (1998) 2355 Lübbe, M.; Lindner, K.; Sloboshanin, S.; Tautz, S.; Schäfer, J.; Zahn, D.R.T.: Angular Resolved Valence Band Spectroscopy of Different Reconstructed 3C-SiC(001) Surfaces, J. Vac. Sci Technol. A, 16 (6) 1998, 3471 Milekhin, A.; Werninghaus, T.; Zahn, D.R.T.; Yanovskii, Yu.; Preobrazhenskii, V.; Semyagin, B.; Gutakovskii, A.: Raman and Infrared Spectroscopical Investigation of the Optical Vibrational Modes in GaSb/AlSb Superlattices, Europ. Phys. J. B, 6 (1998) 295 Cimalla, V.; Scheiner, J.; Ecke, G.; Friedrich, M.; Goldhahn, R.; Zahn, D.R.T.; Pezoldt, J.: The Measurement of the Thickness of the Thin SiC Layers on Silicon Materials Science Forum, 1998, vols. 264-268, Proceedings of the International Conference on Silicon Carbide, III-nitrides and Related Materials 1997 (ICSCIII-N’97): Mater. Sci. Forum, Vol.264-268 (1998) 641 Bessolov, V.N.; Lebedev, M.V.; Hohenecker, S.; Zahn, D.R.T.: Band Bending on GaAs(100): The Dipole Layer Formation on Solution Passivated Surface, Physics of Low Dimensional Structures, 9/10 (1998) 105 Zahn, D.R.T.; Schneider, A.; Hartmann, N.; Haworth, L.; Westwood, D.A.: In Situ Raman 51
52 Fakultät für Naturwissenschaften Spectroscopy of the III-V Semiconductor Nitridation Process Proc., 16 th Int. Conf. Raman Spectroscopy, (1998) 654 Wissenschaftliche Vorträge: Zahn, D.R.T.: In situ optische Spektroskopie an Halbleiterschichten und vergrabenen Grenzflächen, 04.06.1998, FZ Rossendorf Zahn, D.R.T.: In situ-Ramanspektroskopie; Einführung und Beispiele, 11.06.1998, TU Dresden Zahn, D.R.T.: CdS/InP: Ein Beispiel für spektroskopische Untersuchungen von II-VI/III-V Heterostrukturen, 03.12.1998, Universität Würzburg Kampen, Th.: In-situ-Spektroskopie von Wachstumsprozessen, Breitbandige Halbleiter für die Licht-emission im blauen Spektralbereich, 31.08.1998 WE-Heraeus-Ferienkurs für Physik, TU Chemnitz Kampen, Th.: Ultradünne Schichten organischer Moleküle, 11.12.1998, Universität -GH-Paderborn Materialforschung und Flüssigkeiten Univ.-Prof. Dr. Jens-Boie Suck Wissenschaftliche Veröffentlichungen: Vacher, R.; Foret, M.; Courtens, E.; Pelous, J.; Suck, J.-B.: Do High-Frequency Acoustic Vibrations Propagate in Structurally Disordered Solids ? Phil. Mag. B 77 (1998) 523 Benmore, C.-J.; Sweeney, S.; Robinson, R. A.; Egelstaff, P. A.; Suck, J.-P.: Constant Q Measurements of Collective Modes in Mg 70 Zn 30 Glass, Physica B 241-243 (1998) 912 Mos, B.; Verkerk, P.; Bafile, U.; Suck, J.-B.; Anderson, K.; Cook, J.: The two-body collision therm in the density expansion of the dynamical structure factor of argon determined by neutron scattering. Physica B 241-243 (1998) 955 Uhlig, H.; Suck, J.-B.: Quasielastic Neutron Scattering Experiments on Icosahedral Al 71 Pd 19 Mn 10 at Different Temperatures, “Proc. of Aperiodics 97” ed. M.de Boissieu, J.L. Verger-Gaugry, R. Currat (World Scientific 1998) p. 657 Dugain, F.; de Boissieu, M.; Hradil, K.; Shibata, K.; Currat, R.; Kortan, A.R.; Tsai, A.P.; Suck, J.-B.; Frey, F.: Inelastic Neutron Scattering Study of the Dynamics of the Decagonal AlNiCo Phase, “Proc. of Aperiodics 97” ed. M.de Boissieu, J.L. Verger-Gaugry, R. Currat (World Scientific 1998) p. 651 Otomo, T.; Arai, M.; Inamura, Y.; Suck, J.-B.; Bennington, S.; Suzuki, K.: Observation of Collective Excitations in the Amorphous Alloy Ni 67 Zr 33, J. Non-cryst. Solids 232-234 (1998) 613 Pratesi, G.; Suck, J.-B.: Collective Atomic Cynamics in Liquids with Partially Covalent Binding Forces, J.Non-cryst. Solids 232-234 (1998) 252 Uhlig, H.; Friess, M.; Lamparter, P.; Steeb, S.: Local Order of Polymer Derived Amorphous SiCN, J. Appl. Phys., 83 (1998) 5714 Uhlig, H.; Hoffmann, M.-J.; Lamparter, P.; Steeb, S.: Atomic Structure of Rare Earth Si-Al-O-N Glasses, Z. Naturforsch. 53a (1998) 259 Hellweg, Th.; Langevin, D.: Bending elasticity of the surfactant monolayer in droplet microemulsions: Determination by a combination of dynamic light scattering and neutron spinecho spectroscopy, Physical Review E 6 (1998) 57 Hellweg, Th.; Eimer, W.: The micro-structures formed by Ni2+ -AOT/cyclohexane/water mircoemulsions: a light scattering study Colloids and Surfaces, A: Physicochemical and Engineering Aspects 136 (1998) 97
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