2. Allgemeiner Teil - Online-Publikationen
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Abbildung 6: Die Ionenfalle<br />
<strong>Allgemeiner</strong> <strong>Teil</strong><br />
Das Eintreten der Ionen, deren Aufenthalt in der Ionenfalle sowie deren Austritt daraus ist<br />
ein pulsartiger Vorgang, der zwischen 50 und 100 ms andauert.<br />
Zur Erfassung der Ionen existieren mehrere Modi. Im Full-Scan-Modus werden größere<br />
Massenbereiche abgetastet. Im sog. SIM-Modus (Selected Ion Monitoring) wird hingegen<br />
nur ein bzw. wenige bestimmte Ionen selektiv in der Ionenfalle akkumuliert, während<br />
andere Ionen ausgeworfen werden. Dadurch wird das Signal/Rausch-Verhältnis enorm<br />
verbessert und somit eine bessere Sensitivität erzielt. Wird auf der anderen Seite eine<br />
bessere Auflösung angestrebt, dann wird das Scannen durch allmähliche Erhöhung der RF-<br />
Spannung an der Ringelektrode langsam vorgenommen, wobei hier von einem Zoom-<br />
Modus gesprochen wird. Im SRM-Modus (Selected Reaction Monitoring) werden Ionen<br />
eines bestimmten Massen/Ladungs-Verhältnisses selektiert und akkumuliert. Durch<br />
Kollisionen der selektieren Ionen mit dem Dämpfungsgas kommt es zu Fragmentierungen,<br />
wobei man hier von „Source CID“ (Collision-Induced Dissociation) spricht. Anschließend<br />
werden nur bestimmte Produktionen, die von Interesse sind, gescannt und aufgezeichnet.<br />
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