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Essais & Simulations n°115

Le point sur les incertitudes de mesure

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Dossier<br />

<strong>Essais</strong> et Modelisation<br />

de mettre en œuvre une séquence de<br />

calculs algébriques assez fastidieuse<br />

qui ne permet pas d’appréhender<br />

clairement l’influence des approximations<br />

successives impliquées dans ce<br />

processus. En outre, elle fournit une<br />

solution approximative d’autant moins<br />

précise que la non linéarité du modèle<br />

est prononcée, ce qui est le cas d’une<br />

fonction puissance telle que celle apparaissant<br />

dans (2).<br />

2.2. Approche multiplicative<br />

La structure du modèle (2) suggère une<br />

approche plus pertinente : alors que la<br />

propagation de distributions normales<br />

est intrinsèquement adaptée aux modèles<br />

linéaires de type additif (ce qui<br />

n’est pas le cas ici), la propagation de<br />

distributions lognormales l’est dans le<br />

cas de modèles multiplicatifs [PIE-13].<br />

Plusieurs avantages en découlent :<br />

d’une part si les distributions des paramètres<br />

d’entrée sont lognormales,<br />

celle de la probabilité de défaillance<br />

l’est aussi, d’autre part la solution correspondante<br />

est formellement exacte<br />

et peut être obtenue plus directement.<br />

Le choix d’incertitudes paramétriques<br />

distribuées suivant des lois lognormales<br />

est tout aussi justifié que le choix<br />

de lois normales, car dans ce dernier<br />

cas la distribution de l’incertitude affectant<br />

la probabilité de défaillance est assimilée<br />

abusivement à une loi normale.<br />

A la limite, les deux approchese se rejoignent<br />

puisque la loi lognormale tend<br />

vers une normale lorsque son coefficient<br />

de variation est suffisamment<br />

faible (son asymétrie positive s’atténue).<br />

Nous faisons donc l’hypothèse<br />

que les paramètres d’échelle sont<br />

des variables aléatoires lognormales<br />

notées LN c<br />

[µ c<br />

,σ c<br />

] et LN r<br />

[µ r<br />

,σ r<br />

] dont les<br />

deux paramètres [µ i<br />

,σ i<br />

] sont ceux de la<br />

loi normale parente dont découle la loi<br />

lognormale par une transformation exponentielle<br />

[PAP-84]. Dans ces conditions,<br />

la probabilité de défaillance est<br />

distribuée suivant une loi lognormale<br />

notée LN d<br />

[µ d<br />

,σ d<br />

] dont les deux paramètres<br />

s’écrivent directement :<br />

(3)<br />

(4)<br />

En théorie, la connaissance de ces<br />

deux moments permet d’obtenir explicitement<br />

toutes les caractéristiques<br />

statistiques utiles qui caractérisent<br />

la probabilité de défaillance : valeur<br />

moyenne m d<br />

, coefficient de variation γ d<br />

,<br />

et quantile X q<br />

associé à une probabilité<br />

Ϥ correspondant à un quantile Z q<br />

de la<br />

loi normale standardisée.<br />

(5)<br />

(6)<br />

(7)<br />

Cette approche permet de définir des<br />

intervalles de confiance classiques bilatéraux<br />

(associés par exemple à un<br />

niveau de confiance de 90 %) ou une<br />

mesure plus pertinente en terme de<br />

risque (par exemple une probabilité de<br />

dépassement de 1 % associée à une<br />

probabilité de défaillance assignée).<br />

3. SOLUTION APPROCHEE<br />

Bien que les expressions précédentes<br />

fournissent une solution complète et<br />

explicite au problème posé, leur exploitation<br />

en vue d’une analyse de<br />

sensibilité paramétrique n’est pas<br />

suffisamment simple. C’est pourquoi<br />

il est souhaitable de les formuler différemment<br />

et d’y introduire quelques<br />

simplifications.<br />

A cet effet, l’introduction des coefficients<br />

de variation et du facteur de sécurité<br />

(terme plus général que le coefficient<br />

de garantie) est compatible avec<br />

la formulation adoptée dans le cadre de<br />

la méthode « résistance-contrainte »<br />

[NFX-13], ce qui facilite l’analyse et<br />

l’interprétation des résultats.<br />

En ce qui concerne les caractéristiques<br />

statistiques de la loi lognormale,<br />

un développement limité de la relation<br />

(6) montre qu’il est possible d’assimiler<br />

le coefficient de variation µ d<br />

à l’écarttype<br />

σ d<br />

. Ce dernier est un majorant tel<br />

que pour σ d<br />

≤ 20%, l’erreur commise<br />

est inférieure à 1%. Dans les relations<br />

(4 à 7) on peut donc valablement substituer<br />

les coefficients de variation aux<br />

écart-types correspondants.<br />

Il reste à exprimer les paramètres<br />

(µ c<br />

,µ c<br />

) intervenant dans la définition<br />

des lois lognormales en fonction des<br />

valeurs moyennes assignées à la résistance<br />

et à la contrainte, dont le rapport<br />

s’identifie au facteur de sécurité.<br />

A partir de (5,6) on obtient sans approximation<br />

:<br />

(8)<br />

En notant S 0<br />

= (m r<br />

/m c<br />

) le facteur de<br />

sécurité relatif aux valeurs moyennes<br />

déterministes de la résistance et de<br />

la contrainte (en l’absence d’incertitudes),<br />

on constate en tenant compte<br />

de (5) et (8), que l’introduction des incertitudes<br />

relatives caractérisées par<br />

(γ c<br />

,γ r<br />

) se traduit par une légère perturbation<br />

telle que :<br />

(9)<br />

Pour des incertitudes relatives inférieures<br />

à 15 %, une telle correction<br />

peut être valablement négligée, ce qui<br />

permet d’assimiler la variabilité des<br />

paramètres d’échelle à celle des valeurs<br />

moyennes de la résistance et de<br />

la contrainte correspondantes. Alors,<br />

compte tenu de (4) et (6), on peut exprimer<br />

le coefficient de variation affectant<br />

la probabilité de défaillance sous<br />

une forme très simple :<br />

(10)<br />

On constate que la sensibilité de la<br />

probabilité de défaillance aux incertitudes<br />

susceptibles d’affecter les valeurs<br />

moyennes de la résistance et de<br />

<strong>Essais</strong> & <strong>Simulations</strong> • OCTOBRE 2013 • PAGE 58

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