2-2012
Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement
Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement
Erfolgreiche ePaper selbst erstellen
Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.
Qualitätssicherung<br />
Steuerung von MicroCores für Test & Debugging<br />
JTAGLive (von JTAG Technologies)<br />
stellt eine völlig<br />
neue Reihe von Debug-Werkzeugen<br />
für DSP- und Mikroprozessor-Systeme<br />
mit RISCund<br />
DSP-Cores vor. Mithilfe<br />
von JTAGLive CoreCommander<br />
lässt sich der OCD-Modus<br />
(On-Chip-Debug) von verschiedenen<br />
populären Cores aktivieren<br />
und für „Kernel-zentrische“<br />
Tests nutzen.<br />
Inzwischen verfügen viele<br />
Bauteile über JTAG (IEEE Std.<br />
1149.1) Boundary Scan-Register<br />
(BSRs), die sich für einen Testzugang<br />
in Digital- und Mixed-<br />
Signal-Designs verwenden lassen.<br />
Trotzdem gibt es immer<br />
noch eine erhebliche Anzahl<br />
von Mikroprozessoren und DSPs<br />
mit unzureichenden Boundary-<br />
Scan-Testregister oder sogar<br />
ganz ohne. Für die Testingenieure<br />
ist dies frustrierend, da sie<br />
alternative Methoden für den<br />
Test des Prozessors und/oder<br />
der zugehörigen Cluster/Peripherie<br />
benötigen.<br />
Die CoreCommander-Routinen<br />
sind ideal für die Fehlerdiagnose<br />
beim Debugging oder<br />
der Reparatur von Baugruppen<br />
mit derartigen „toten Kernels“,<br />
da kein On-Board-Code zum<br />
Auslesen und Beschreiben des<br />
Speichers erforderlich ist. Die<br />
CoreCommander-Funktionen<br />
ermöglichen zudem einen besseren<br />
Produktionstest von Bauteilen<br />
ohne Boundary-Scan-<br />
Unterstützung und erhöhen so<br />
die Fehlerabdeckung. Da Core-<br />
Commander Python-basierend<br />
ist, ergänzt es perfekt das Produkt-Script<br />
von JTAG Technologies.<br />
Es erlaubt einen Zugang<br />
zu analogen Bauteilen wie ADCs<br />
und DACs sowie einen synchronisierten<br />
Test von Bauteilen mit<br />
vollständiger Boundary-Scan-<br />
Unterstützung. Die jetzt verfügbaren<br />
Lösungen übernehmen<br />
mithilfe von integrierten<br />
Emulations-/Debug-Funktionen<br />
des Prozessor-Cores die<br />
Kontrolle über wichtige Prozessorfunktionen<br />
und wurden von<br />
Testingenieuren für Testingenieure<br />
entwickelt. Die JTAG-Core-<br />
Commander-Produkte verfügen<br />
über zwei verschiedene Betriebsarten<br />
(„interaktiv“ und „Python<br />
embedded“) und sind schnell<br />
zu erlernen und einfach einzusetzen:<br />
Der interaktive Modus<br />
erlaubt dem Anwender die Auswahl<br />
eines unterstützten Bauteils<br />
im Design und die „manuelle“<br />
Auswahl der Befehle für<br />
den Registerzugang sowie ein<br />
Auslesen oder Beschreiben des<br />
vollständigen Speichers über ein<br />
interaktives Fenster und über<br />
einen unterstützten Controller<br />
des Zieldesigns. Befehlssequenzen<br />
können aus dem interaktiven<br />
Fenster exportiert und<br />
als Teil eines Python-Skripts<br />
erneut ausgeführt werden.<br />
Der Python-embedded-Modus<br />
nutzt eine ähnliche Struktur wie<br />
beim JTAG-Live-Script-Produkt,<br />
wobei die CoreCommander-Funktionen<br />
in Python-Code<br />
eingebettet werden können, um<br />
wiederverwendbare Testmodule<br />
für spezielle Tests zu erstellen.<br />
Es werden Beispiele mitgeliefert,<br />
mit denen der Anwender<br />
RAM-Tests oder Flash-Speicher-Programmierfunktionen<br />
über Core-Operationen erstellen<br />
kann.<br />
JTAG Technologies<br />
www.jtag.com<br />
Analysesoftware im kombinierten SPI-, AOI- und AXI-Prozess<br />
Gemeinsam mit dem Hersteller<br />
Omron hatte ATEcare<br />
zur Productronica 2011<br />
die neuen 3D-SPI-, 3D-AOI-<br />
und 3D-AXI-Geräte erfolgreich<br />
vorgestellt. Eine Weltneuheit<br />
stellte dabei die Möglichkeit<br />
zur 3D-Vermessung<br />
von Lötstellen in der neuen<br />
AOI VT-S720 dar. Bisher<br />
einmalig ist das vorgestellte<br />
3D-AXI-Röntgengerät<br />
VT-X700, das gleichzeitig<br />
inline inspizieren kann und<br />
zusätzlich CT-Analysemöglichkeiten<br />
für die Auswertung<br />
zur Verfügung stellt.<br />
Nunmehr bietet Omron<br />
in logischer Konsequenz<br />
die übergeordnete, prozessbegleitende<br />
Software Qup-<br />
Navi, die in Verbindung der<br />
Möglichkeiten von SPI, AOI<br />
und AXI in einer Linie statistische<br />
Werte ermittelt und<br />
anzeigt, dazu eine Analyse<br />
von Pseudofehlern ermöglicht<br />
und ein Werkzeug zur Darstellung<br />
der SPI-, AOI- und AXI-<br />
Bilder zum kombinierten Fehlerbild<br />
bietet. Somit werden im<br />
Fine-Tuning nun auch die prozessbezogenen<br />
Problemzonen<br />
aufgezeigt. Ziel dabei ist es, die<br />
Geräte bei der Linieneinbindung<br />
eben nicht nur zur Gut/<br />
Schlecht-Bewertung zu verwenden,<br />
sondern auch Fehler<br />
und Probleme im Prozess aufzuzeigen<br />
und damit eine übergeordnete<br />
Hilfe für Eingriffe<br />
zu ermöglichen. Gemeinsam<br />
mit lokalen Partnern ist es<br />
dann nur ein kleiner Schritt,<br />
die Geräte mit den vorhandenen<br />
Prozessdaten in MES-,<br />
QS- und Traceability-Werkzeuge<br />
einzubinden.<br />
ATEcare<br />
Service GmbH & Co. KG<br />
www.ATEcare.net<br />
50 2/<strong>2012</strong>
Change language