MEMOIRE MAGISTER - Université Ferhat Abbas de Sétif

Chapitre III : Elaboration des échantillons et techniques de caractérisation utilisées
Dans notre cas nous avons utilisé la diffraction rasante : la source est fixée à une
inclinaison très faible (l’angle utilisé dans notre cas est de 0,56°) et le détecteur est animé
d’un mouvement de rotation (angle 2θ). Un balayage des angles est alors effectué. Lorsqu’un
angle correspondant à une famille de plans (hkl) où la relation de Bragg est satisfaite, le
détecteur enregistre une augmentation de l’intensité diffractée. Une fois les photons détectés,
le compteur les transforment en charge électrique, puis ils sont amplifiés par un système
électronique. Le signal électrique est envoyé vers un ordinateur qui donne l’allure du spectre
avec les différents pics de diffraction. La diffraction a lieu seulement dans les matériaux
cristallisés et lorsque la relation de Bragg est vérifiée:
(3.1)
Avec :
Distance interréticulaire, c'est-à-dire distance séparant deux plans consécutifs d’indice
(hkl).
Angle d’incidence des rayons X sur la surface du matériau étudié.
Ordre de la réfraction.
Longueur d’onde du faisceau de rayons X. dès lors, pour obtenir la valeur des différentes
distances interréticulaires, il suffit de déterminer les valeurs de , pour lesquelles le matériau
diffracte.
• Exploitation des résultats :
Les expériences de diffraction des rayons X fournissent une liste de pics (ou raies) de
diffraction ; chaque pic correspond à une famille de plans réticulaire d’indice (hkl).
L’identification de la phase et de ces paramètres de maille est ensuite réalisée par
comparaison avec les bases de données existantes sur les matériaux.
Le calcul de la taille des grains se fait grâce à la méthode de Scherrer basée sur
l’élargissement des pics de diffraction lié à la taille des cristallites :
(3.2)
Diamètre moyen des cristallites.
Longueur d’onde des rayons X.
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