MEMOIRE MAGISTER - Université Ferhat Abbas de Sétif
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Chapitre III : Elaboration <strong>de</strong>s échantillons et techniques <strong>de</strong> caractérisation utilisées<br />
Représente la largeur à mi-hauteur du pic.<br />
Angle <strong>de</strong> diffraction <strong>de</strong> la raie (hkl).<br />
III.2.2. Transmission optique dans l’UV visible [19,18]<br />
La spectrophotométrie renseigne sur les propriétés optiques <strong>de</strong> l’échantillon à analyser<br />
comme la transmission et l’absorption <strong>de</strong> la lumière, l’estimation du gap optique et <strong>de</strong>s tailles<br />
<strong>de</strong>s cristallites. Elle peut aussi nous renseigner dans certains cas sur l’épaisseur <strong>de</strong><br />
l’échantillon et même <strong>de</strong> remonter à ses constantes optiques.<br />
Le principe <strong>de</strong> cette technique repose sur l’interaction <strong>de</strong> la lumière émise avec<br />
l’échantillon à analyser. Une partie du faisceau inci<strong>de</strong>nt sera absorbée ou transmise par<br />
l’échantillon. Lorsqu'une substance absorbe <strong>de</strong> la lumière dans le domaine <strong>de</strong> l'ultraviolet et<br />
du visible, l'énergie absorbée provoque <strong>de</strong>s perturbations dans la structure électronique <strong>de</strong>s<br />
atomes, ions ou molécules. Un ou plusieurs électrons absorbent cette énergie pour sauter d'un<br />
niveau <strong>de</strong> basse énergie à un niveau <strong>de</strong> plus haute énergie.<br />
Les spectres d’absorption optique <strong>de</strong>s échantillons investis dans le cadre <strong>de</strong> notre<br />
travail sont réalisés à température ambiante à l’ai<strong>de</strong> d’un spectrophotomètre UV-Visible <strong>de</strong><br />
type SAFAS 2000 dont la gamme spectrale s’étale sur un domaine allant <strong>de</strong> 190 nm à 1100<br />
nm et dont le principe est schématisé sur la figure 3.7.<br />
Fig.3.7.Principe <strong>de</strong> fonctionnement d'un spectrophotomètre à double faisceau<br />
III.2.3. Microscopie à force atomique (AFM) [18]<br />
La caractérisation par AFM constitue une métho<strong>de</strong> non <strong>de</strong>structive d’analyse <strong>de</strong> la<br />
topographie d’un échantillon donné. Delà, on peut avoir <strong>de</strong>s renseignements complémentaires<br />
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