13.11.2014 Views

MEMOIRE MAGISTER - Université Ferhat Abbas de Sétif

MEMOIRE MAGISTER - Université Ferhat Abbas de Sétif

MEMOIRE MAGISTER - Université Ferhat Abbas de Sétif

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Chapitre VI : Caractérisation structurale, morphologiques, optiques et électriques <strong>de</strong>s<br />

couches minces élaborées<br />

IV.1. Caractérisation structurale <strong>de</strong>s couches élaborées<br />

Dans le but d’étudier l’effet <strong>de</strong> la concentration en Aluminium et la température du<br />

recuit sur la structure cristalline <strong>de</strong>s couches minces élaborées, nous avons procédé à<br />

l’enregistrement <strong>de</strong>s diagrammes <strong>de</strong> diffraction <strong>de</strong>s rayons X (DRX) sur les échantillons.<br />

IV.1.1. Effet <strong>de</strong> la température <strong>de</strong> recuit sur la structure cristalline<br />

Les figures 4.1 à 4.6 représentent les diagrammes DRX <strong>de</strong>s couches minces <strong>de</strong> ZnO<br />

dopées avec 0, 1, 2, 3, 4 et 5% respectivement. Dans chaque figure, nous avons montré les<br />

diagrammes DRX pour différentes températures <strong>de</strong> recuit (400 °C, 450 °C, 500 °C et 550 °C).<br />

Sur tous les diagrammes, il y a présence <strong>de</strong>s pics dans les positions 31,64 , 35,33 , 36 ,<br />

47,39 , 56,5 , 62,42 , 67,08 et 68,29 qui correspon<strong>de</strong>nt aux plans (100), (002), (101), (102),<br />

(110), (103), (200) et (201) <strong>de</strong> la structure hexagonale <strong>de</strong> type wurtzite <strong>de</strong> ZnO. On peut<br />

déduire <strong>de</strong> la DRX que tout les films obtenus sont polycristallins avec une orientation<br />

préférentielle selon l’axe c perpendiculaire au substrat. De plus tous les pics sont larges ce qui<br />

indique la petite taille <strong>de</strong>s grains (nanométrique) formant la couche.<br />

Le caractère commun à tous les spectres est l’augmentation <strong>de</strong> l’intensité <strong>de</strong>s pics<br />

avec la température <strong>de</strong> recuit pour atteindre la valeur maximale à T=500 °C, puis diminue<br />

pour 550 °C. De cette remarque, on peut dire que la température optimale <strong>de</strong> recuit est 500<br />

°C. On constate également la présence <strong>de</strong>s pics <strong>de</strong> SiO 2 pour certaines couches ce qui<br />

témoigne <strong>de</strong> la faible épaisseur. Dans ce cas la profon<strong>de</strong>ur <strong>de</strong> pénétration <strong>de</strong>s rayons X atteint<br />

le substrat.<br />

Dans ce qui va suivre, nous allons donner quelques particularités relatives à chaque<br />

concentration.<br />

1) ZnO non dopé<br />

On constate que le pic le plus intense pour la température <strong>de</strong> 400 °C et 550 °C est le<br />

(100), tandis que pour 450 °C les intensités <strong>de</strong>s pics (100), (002) et (101) sont pratiquement<br />

les mêmes. Donc la température <strong>de</strong> recuit modifie l’orientation <strong>de</strong>s plans cristallins.<br />

47

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!