MEMOIRE MAGISTER - Université Ferhat Abbas de Sétif
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Chapitre III : Elaboration <strong>de</strong>s échantillons et techniques <strong>de</strong> caractérisation utilisées<br />
(3.6)<br />
e: charge <strong>de</strong> l’électron.<br />
d: épaisseur <strong>de</strong> l’échantillon.<br />
En mesurant V H et en connaissant les valeurs <strong>de</strong> I et B, on peut ainsi déterminer N H . Ensuite,<br />
connaissant , on peut déduire , à l’ai<strong>de</strong> <strong>de</strong> l’équation (3.7) :<br />
(3.7)<br />
Fig.3.11. Schéma <strong>de</strong>scriptif <strong>de</strong> l’effet Hall.<br />
<br />
Ce système se base sur la métho<strong>de</strong> <strong>de</strong> Van <strong>de</strong>r Pauw, qui définit comment déterminer<br />
et V H sur un échantillon à la périphérie duquel 4 contacts métalliques ont été disposés. En<br />
faisant passer un courant entre 2 contacts et en mesurant la tension entre les 2 autres contacts,<br />
selon la configuration représentée à la figure (3.11), on mesure R 1 , R 2 , et V H .<br />
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