Giorgio Fiorese Per un Hub della conoscenza - Dipartimento di ...

materiali, nuovi modelli e paradigmi
possono offrire a tutti la possibilità
di immaginare “cose nuove”, anche
laddove esistono leader di mercato
consolidati.
Non è questo un fatto assolutamente
affascinante e unico? Non è questa
un’opportunità molto interessante anche
per il nostro paese, le nostre imprese
e i nostri giovani ricercatori?
[Alfonso Fuggetta (1958) è professore ordinario
di Ingegneria Elettronica presso il Politecnico
di Milano, dove si è laureato nel 1982. Ha
svolto ricerche presso: l’Istituto Norvegese di
Scienza e Tecnologia (NTNU) di Trondheim;
la University of Colorado, Boulder; la University
of California, Irvine (UCI), presso la quale
è anche visiting professor. È Direttore Scientifico
del CEFRIEL, Centro del Politecnico di
Milano per la Ricerca e la Formazione in Ingegneria
dell’Informazione. Lo scritto è stato
parzialmente pubblicato in “nòva 24”, supplemento
de “Il Sole 24 ore”, 3.4.2008.]
1.2.4 Antonio Longoni (L’analisi
spettroscopica fa conoscere meglio
l’arte)
Antonio Longoni è professore ordinario
di Elettronica e responsabile del
Gruppo di ricerca sui Rivelatori di
Radiazione ed Elettronica Nucleare
(Dipartimento di Elettronica e Informazione,
Politecnico di Milano); si
occupa dello sviluppo della strumentazione
avanzata per lo studio dei
materiali basata sull’analisi spettroscopica
della fluorescenza X (XRF =
X-Ray Fluorescence spectroscopy).
Longoni – in un articolo pubblicato,
con Carlo Fiorini e Chiara Guazzoni,
sulla “Rivista del Politecnico” – spiega
che questa è una tecnica non-distruttiva,
che consente di identificare
gli elementi chimici presenti nel materiale;
per questo si presta all’analisi
di opere d’arte e materiali di interesse
storico e archeologico.
A questo fine, viene utilizzato un nuovo
tipo di rivelatore di radiazione,
nato per applicazioni nel campo della
fisica delle particelle elementari e
introdotto per la prima volta in stru-
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menti per l’analisi dei Beni Culturali;
data la compattezza e le elevate
prestazioni che si possono ottenere,
è possibile svolgere queste analisi direttamente
sul campo.
(Tale rivelatore – denominato SDD,
Semiconductor Drift Detector – fu
ideato nel 1983 da Emilio Gatti, del
Politecnico, e da P. Rehak, del Brookhaven
National Laboratory, Usa).
L’analisi spettroscopica della fluorescenza
X – emessa da un materiale
eccitato da un’opportuna sorgente di
raggi X – consente l’identificazione
dei componenti chimici.
I fotoni X di fluorescenza emessi da
un atomo hanno, infatti, energie caratteristiche,
legate in maniera univoca
all’atomo che li emette. È anche
possibile, in opportune condizioni, determinare
quantitativamente la composizione
percentuale del matriale.
Uno spettrometro XRF è composto
essenzialmente da una sorgente di
eccitazione X; da un rivelatore di radiazione
capace di misurare l’energia
dei raggi X; da un sistema elettronico
per l’acquisizione e l’elaborazione
dei dati.
I rivelatori di radiazione X, classicamente
utilizzati per analisi XRF ad
alta risoluzione (ad esempio i rivelatori
in Silicio compensato con Litio),
devono essere raffreddati alla temperatura
dell’azoto liquido (circa 200
°C sotto lo zero).
Invece, è molto importante che il
SDD, al contrario, raggiunge elevate
risoluzioni spettroscopiche a temperature
prossime a quelle ambiente
(pochi gradi centigradi sotto lo zero);
è questo che ha permesso la realizzazione
di spettrometri di elevate prestazioni
analitiche, compatti e ideali
per analisi sul campo.
La foto mostra una versione recente
dello spettrometro durante alcune
fasi delle analisi effettuate sulla Lupa
Capitolina presso i Musei Capitolini