utbredning, lakvattenspridning och påverkan på omgivning - Sysav
utbredning, lakvattenspridning och påverkan på omgivning - Sysav
utbredning, lakvattenspridning och påverkan på omgivning - Sysav
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
effekt (Jönsson 2002). Porositeten <strong>och</strong> porernas fyllnadsgrad har också betydelse. IP-effekten blir<br />
störst när porositeten är låg <strong>och</strong> porerna är vattenfyllda till ¾, varför även kroppar ovan<br />
grundvattenytan kan framkalla IP-effekt.<br />
Elektrodpolarisation ger upphov till betydligt större IP-effekt än membranpolarisation, men i övrigt<br />
kan de båda processerna inte särskiljas utifrån avklingningskurvan.<br />
5.2.3 Normaliserad IP<br />
IP-effekt beror enligt ovan både <strong>på</strong> elektrodpolarisation <strong>och</strong> membranpolarisation. Normaliserad IP är<br />
en parameter som kvantifierar hur stor del av IP-effekten som beror <strong>på</strong> elektrodpolarisation, vilket i<br />
huvudsak är ett ytfenomen (Slater <strong>och</strong> Lesmes 2002). Man kan därför säga att normaliserad IP är ett<br />
slags mått <strong>på</strong> ytledningsförmåga.<br />
Försök i laboratorium visar att standard IP korrelerar starkt med uppmätt resistivitet, som bland annat<br />
beror <strong>på</strong> jonhalt, vattenmättnadsgrad <strong>och</strong> lerhalt (se avsnitt 5.1.1.1). Normaliserad IP däremot visade<br />
sig vara oberoende av uppmätt resistivitet <strong>och</strong> direkt relaterad till IP-effekt genom elektrodpolarisation<br />
(Slater <strong>och</strong> Lesmes 2002). Detta gör att normaliserad IP kan vara till hjälp vid tolkning av IPanomalier<br />
för att avgöra om IP-effekt uppstår <strong>på</strong> grund av litologiska faktorer eller ökad jonhalt.<br />
Normaliserad IP betecknas MN (normaliserad uppladdningsförmåga) <strong>och</strong> definieras som<br />
uppladdningsförmågan (M) dividerat med värdet för resistivitet (ρ) (Slater <strong>och</strong> Lesmes 2002).<br />
Normaliserad uppladdningsförmåga har enheten mS/m.<br />
5.2.4 Metod<br />
Resistivitetsmätningar ingår som en del av proceduren för IP-mätning i tidsdomän. Den konstanta<br />
spänningen som ligger till grund för resistivitetsvärdet bestäms under mätproceduren. Mätningarna av<br />
resistivitet <strong>och</strong> IP kan därför kombineras utan större svårigheter. Metoden (inklusive<br />
elektrodkonfiguration <strong>och</strong> så vidare) är alltså densamma som för resistivitetsmätningar <strong>och</strong> beskrivs i<br />
kapitel 5.1.2. Vid IP-mätningar är det dock av ännu större betydelse att injektera så stor strömstyrka<br />
som möjligt i marken, eftersom IP-effekt ger mycket lägre signalstyrka, vilket gör mätningarna mer<br />
känsliga för brus <strong>och</strong> andra störande moment. Det är även viktigt att mätprotokollen skrivs så att det<br />
går så lång tid som möjligt innan de elektroder som använts för att injektera ström används för att mäta<br />
potentialskillnad. Detta för att undvika uppladdningseffekter (Dahlin 2000).<br />
Topografin spelar också roll för resultatet vid 2D-undersökningar <strong>och</strong> höjder ska om möjligt korsas<br />
med rät vinkel för att undvika 3D-effekter.<br />
5.2.5 Processering av data<br />
Inverteringen av IP-data sker i samband med resistivitetsinverteringen i RES2DINV genom invers<br />
modelltolkning, se kapitel 5.1.3<br />
Resistivitetsmodellen för varje iteration vid datorprocesseringen används för att beräkna potentialen<br />
enligt:<br />
i<br />
DConly<br />
i ( − mi<br />
ρ = ρ 1<br />
ρ i Resistivitet i det laddade materialet.<br />
DConly<br />
ρ i Resistivitet i det oladdade materialet.<br />
m Uppladdningsförmåga, chargeability.<br />
)<br />
- 32 -<br />
(5:6)